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  1. WU, Long ; MA, Jie ; et al.
    In: 2020 3rd International Conference on Electron Device and Mechanical Engineering (ICEDME), 2020-05-01, S. 471-475
    Konferenz
  2. Zhou, Biao ; Su, Chengzhi ; et al.
    In: 2017 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO), 2017-08-01, S. 379-383
    Konferenz
  3. Ali, May ; Abdul-Rashid, Suraya ; et al.
    In: 2016 International Conference on Advances in Electrical, Electronic and Systems Engineering (ICAEES), 2016-11-01, S. 293-296
    Konferenz
  4. Ricciardella, F. ; Vollebregt, S. ; et al.
    In: 2017 IEEE SENSORS, 2017-10-01, S. 1-3
    Konferenz
  5. Tsai, T. C. ; Lou, L. R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, Jg. 10 (2011-03-01), Heft 2, S. 197-202
    Online academicJournal
  6. Ricciardella, F. ; Vollebregt, S. ; et al.
    In: 2016 IEEE SENSORS, 2016-10-01, S. 1-3
    Konferenz
  7. Matsumoto, Y. ; Ortega, M. ; et al.
    In: 2008 5th International Conference on Electrical Engineering, Computing Science and Automatic Control, 2008-11-01, S. 456
    Konferenz
  8. Lee, J.I. ; Park, H. ; et al.
    In: 2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007-06-01, S. 102
    Konferenz
  9. Godavarthi, S. ; Matsumoto, Y. ; et al.
    In: 2009 6th International Conference on Electrical Engineering, Computing Science and Automatic Control (CCE), 2009-11-01, S. 1
    Konferenz
  10. Kadota, Michio ; Ogami, Takashi ; et al.
    In: 2009 IEEE International Frequency Control Symposium Joint with the 22nd European Frequency and Time forum, 2009-04-01, S. 75
    Konferenz
  11. Akinwande, D. ; Tao, L. ; et al.
    In: IEEE Nanotechnology Magazine, Jg. 9 (2015-09-01), Heft 3, S. 6-14
    Online academicJournal
  12. Fontana, Marcio ; Liu, Yian ; et al.
    In: 2013 Microsystems for Measurement and Instrumentation: Fulfilling the Promise (MAMNA), 2013-05-01, S. 7-11
    Konferenz
  13. Arik, Mehmet ; Li, Ri ; et al.
    In: 2010 12th IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems, 2010-06-01, S. 1-8
    Konferenz
  14. Bakar, Suriani Abu ; Muhamad, Salina ; et al.
    In: 2012 IEEE Symposium on Business, Engineering and Industrial Applications, 2012-09-01, S. 377-381
    Konferenz
  15. Yong-xiang, Liu ; Jun-hua, Liu ; et al.
    In: 2010 IEEE 5th International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, 2010, S. 671-675
    Konferenz
  16. Maruizumi, T. ; Takemura, Y. ; et al.
    In: 1998 Sixth International Workshop on Computational Electronics. Extended Abstracts (Cat. No.98EX116), 1998, S. 190-193
    Konferenz
  17. Choo, Jae-Ouk ; Adomaitis, R.A. ; et al.
    In: Proceedings of the 2004 American Control Conference, Jg. 1 (2004), S. 287-292
    Konferenz
  18. Han, S. M. ; Lee, M. C. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 93 (2005-07-01), Heft 7, S. 1297-1305
    Online academicJournal
  19. Hiroi, M. ; Ikezawa, T. ; et al.
    In: 1999 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. SISPAD'99 (IEEE Cat. No.99TH8387), 1999, S. 63-66
    Konferenz
  20. Velthuis, J.J. ; Page, R.F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Radiation and Plasma Medical Sciences, Jg. 1 (2017-11-01), Heft 6, S. 527-527
    Online academicJournal
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