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    Design for Failure Analysis in a 24 GHz Low-Noise Amplifier for Short Range Radar Applications Created in Silicon CMOS Technology
    Vehring, Soenke ; Gerfers, Friedel ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2017-11-01
    Online unknown
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    Failure Analysis of Tungsten Contact Failure in a 0.13 μm CMOS Process
    Widener, Ed ; Subramanian, Sam ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2002-10-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    An Application of Breakthrough Failure Analysis Techniques in Eliminating Silicon Dislocation Problem in Sub-Micron CMOS Devices
    Lock, H. C. ; Mak, W. M. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1997-09-01
    Online unknown
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    View record in OpenAIRE (Volltext)
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    Characterization of Unfilled Tungsten Plugs on a 0.35μm CMOS Multilevel Metallization Process
    Bothra, S. ; Sur, H. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1996-08-01
    Online unknown
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    Case Study: Unique Stress Induced Gate Oxide Defects in a CMOS Analog/Digital Device Revealed by Backside Silicon Removal
    Matthews, M.M.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1996-08-01
    Online unknown
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    Failure Analysis on Inter Polysilicon Oxide Reliability Issues of 40nm Automotive NVM Device
    Tan, H. ; Ting, S. L. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2019-12-01
    Online unknown
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    Near-Field Scanning Optical Microscopy for Through-Silicon Imaging and Fault Isolation of Integrated Circuits
    Giridharagopal, R. ; Niu, B. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2014-11-01
    Online unknown
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    Investigation of Choline Hydroxide for Selective Silicon Etch from a Gate Oxide Failure Analysis Standpoint
    Korchnoy, Valentina
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2002-10-01
    Online unknown
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    Infrared Emission-based Static Logic State Imaging on Advanced Silicon Technologies
    Bockelman, Daniel R. ; Obradovic, B. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2002-10-01
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Optical Probing of VLSI ICs from the Silicon Backside
    Eiles, Travis ; Woods, Gary L. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1999-10-01
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Failure Isolation of Mobile Ions Using Secondary Ion Mass Spectroscopy
    John, R.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1997-09-01
    Online unknown
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    Burn-in Failure Analysis of 0.5μm 1MB SRAM: Barrier Glue Layer Cracks and Tungsten Plug 'Worm Holes'
    Fitch, J. ; Tatti, S. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1996-08-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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