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    Single-Event Upsets in Substrate-Etched CMOS SOI SRAMs Using Ultraviolet Optical Pulses With Sub-Micrometer Spot Size
    Larue, C. ; Pouget, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4184-4191
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    Effects of Moisture on Radiation-Induced Degradation in CMOS SOI Transistors
    Dodd, Paul E. ; Schwank, James R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-08-01), S. 1777-1780
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    Radiation-induced back-channel leakage in SiGe CMOS on silicon-on-sapphire (SOS) technology
    Cressler, John D. ; Mathew, S.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 46 (1999-12-01), S. 1848-1853
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    Latchup in CMOS from single particles
    Johnston, A.H. ; Hughlock, B.W.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 37 (1990-12-01), S. 1886-1893
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    Total Dose Characterizations of CMOS Devices in Oxygen Implanted Silicon-on-Insulator
    Pollack, Gordon P. ; Mao, B.-Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 33 (1986), S. 1702-1705
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    Radiation Testing of the CMOS 8085 Microprocessor Family
    Giddings, A. E. ; Kim, W. S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 30 (1983-12-01), S. 4235-4239
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    A Radiation-Hard Silicon Gate Bulk CMOS Cell Family
    Habing, D. H. ; Gibbon, Charles F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 27 (1980), S. 1712-1715
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    Impact of Strained-Si PMOS Transistors on SRAM Soft Error Rates
    Mahatme, N. N. ; Fang, Yi-Pin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-08-01), S. 845-850
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    Radiation hardened SOS MOSFET technology for infrared focal plane readouts
    Kub, Francis J. ; Yao, C.T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 37 (1990-12-01), S. 2020-2025
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    Two-dimensional simulation of total dose effects on NMOSFET with lateral parasitic transistor
    Flament, O. ; Michez, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 43 (1996-12-01), S. 2651-2658
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    Total Dose Hardening of Buried Insulator in Implanted Silicon-on-Insulator Structures
    Hughes, Harold L. ; Mao, Bor-Yen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 34 (1987), S. 1692-1697
    Online unknown
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