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    1 meV electron irradiation and post-annealing effects of GaInAsN diluted nitride alloy with 1 eV bandgap energy
    Sailai, M. ; Rui Ting Hao ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 709 (2020-09-01), S. 138237-138237
    Online unknown
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    2 MeV electron irradiation effects on bulk and interface of atomic layer deposited high-k gate dielectrics on silicon
    Castán, Helena ; Zabala, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 534 (2013-05-01), S. 482-487
    Online unknown
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    Accelerator based synthesis of hydroxyapatite by MeV ion implantation
    Kwon, Tae-Yub ; Narayanan, Ramaswamy ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010-04-01), S. 3160-3163
    Online unknown
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    Carrier control of β-FeSi2 by 1.2 MeV-Au++ ion irradiation
    Imai, Akifumi ; Ando, Yuichiro ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-08-01), S. 8175-8178
    Online unknown
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    Optical investigation of structures formed by 2 MeV oxygen implantation into silicon
    Siapkas, D. I. ; Hatzopoulos, N ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 289 (1996-11-01), S. 90-94
    Online unknown
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    1 MeV electron irradiation induced degradation of boron-doped strained Si1−xGex layers
    Poortmans, Jozef ; Caymax, Matty ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 222 (1992-12-01), S. 166-172
    Online unknown
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    The 698 meV optical band in MBE silicon
    Norbert de Mello ; Lightowlers, Edward C. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 183 (1989-12-01), S. 273-280
    Online unknown
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    Evaluation of glancing angle X-ray diffraction and MeV 4He backscattering analyses of silicide formation
    Tu, King-Ning ; Mayer, J. W. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 23 (1974-09-01), S. 205-213
    Online unknown
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    Bragg's rule study in binary metal alloys and metal oxides for MeV 4He+ ions
    Chu, Wei-Kan ; Feng, J.S.-Y. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 19 (1973-12-01), S. 227-238
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Opto-electrical characterisation of In-doped SnS thin films for photovoltaic applications
    Marí, Bernabé ; Marzantowicz, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 636 (2017-08-01), S. 158-163
    Online unknown
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    Halide vapor phase epitaxy of Si doped β-Ga2O3 and its electrical properties
    Yamakoshi, Shigenobu ; Kuramata, Akito ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 666 (2018-11-01), S. 182-184
    Online unknown
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    Incorporation and activation of arsenic in single-crystal CdTe layers grown by metalorganic chemical vapor deposition
    Kostunin, M.V. ; Moiseev, A. N. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 689 (2019-11-01), S. 137514-137514
    Online unknown
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    Photoluminescence and optical transitions in C60 fullerene thin films deposited on glass, silicon and porous silicon
    Alizade, Elvin H. ; Dzhafarov, T.D. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 690 (2019-11-01), S. 137566-137566
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Influence of electrical performance on Cu-related defects generated by 250keV electron irradiation in Cu (In, Ga) Se2 thin-film solar cells
    Niki, Shigeru ; Kawakita, Shirou ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 535 (2013-05-01), S. 353-356
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Effects of pulsed laser annealing on deep level defects in electrochemically-deposited and furnace annealed CuInSe2 thin films
    Scarpulla, Michael A. ; Meadows, H ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 531 (2013-03-01), S. 566-571
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Zinc vacancies and interstitials in ZnO nanorods
    Chandrinou, C. ; Travlos, A. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 520 (2012-05-01), S. 4654-4657
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Competitive growth mechanisms of InAs quantum dots on InxGa1−xAs layer during post growth interruption
    Sim, Uk ; Kim, Jungsub ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010-09-01), S. 6361-6364
    Online unknown
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    Comparative ellipsometric and ion beam analytical studies on ion beam crystallized silicon implanted with Zn and Pb ions
    Angelov, Christo ; Mikli, Valdek ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-09-01), S. 8009-8012
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Effects of the temperature and of the amount of Ge on the morphology of Ge islands grown by reduced pressure–chemical vapor deposition
    Bremond, Georges ; Rolland, G. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 479 (2005-05-01), S. 113-120
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Growth of device quality p-type μc-Si:H films by hot-wire CVD for a-Si pin and c-Si heterojunction solar cells
    Seitz, H ; Mukherjee, Chandrachur ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 395 (2001-09-01), S. 310-314
    Online unknown
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