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    (Invited) On the Potential of Lateral BJTs and SiGe HBTs in Advanced CMOS Technologies
    Koricic, Marko ; Osrecki, Zeljko ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 98 (2020-09-08), S. 111-117
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    (Invited) Heterogeneous Integration of InP HBTs on CMOS: Leveraging and Providing Value to Conventional Silicon Technologies
    Le, Dustin ; Royter, Yakov ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 1047-1054
    Online unknown
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    (Invited) Advanced Heterogeneous Integration of InP HBT and CMOS/SiGeBiCMOS Technologies
    Oyama, B. ; Poust, Ben ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 161-168
    Online unknown
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    CMOS Photonics Using Germanium Photodetectors
    Masini, Gianlorenzo ; Gunn, Cary ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 17-24
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    A Cost-Effective CMOS Technology Utilizing Gate Work Function Control with Hafnium
    Tsutsui, Gen ; Nakamura, Hidetatsu ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 11 (2007-09-28), S. 161-172
    Online unknown
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    (Invited) Strain Engineering and Junction Design for Tunnel Field-Effect Transistor
    Han, Genquan ; Yeo, Yee-Chia ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 77-87
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    Monolithic III-V/Si Integration
    Lubyshev, Dmitri ; Urtega, M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 1015-1020
    Online unknown
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    Growth of III/V Materials on Large Area Silicon
    Ngoc Duy Nguyen ; Heuken, Michael ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 233-236
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    (Invited) Silicon on Thin Buried Oxide (SOTB) Technology for Ultralow-Power Applications
    Yamamoto, Yoshiki ; Kamohara, Shiro ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 54 (2013-06-28), S. 189-196
    Online unknown
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    Gate Electrode Material Effect on Characteristics of Zirconium-Doped Hafnium Oxide High-k MOS Capacitors
    Liu, Lingguang ; Lin, Wen-Shan ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 97 (2020-04-24), S. 143-149
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    (Invited) Waveguide Germanium PIN Photodiodes for Optical Communication Applications
    Baudot, Charles ; Boeuf, F. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-12), S. 729-735
    Online unknown
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    Arsenic Dimer (As2 +) Lightly Doped Drain (LDD) Implantation Study for 20nm Logic Device Development
    Xie, Xinyun ; Shi, Weimin ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 60 (2014-02-27), S. 51-55
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    (Invited) Printed Organic TFTs on Flexible Substrate for Complementary Circuits
    Coppard, Romain ; Maiellaro, G. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 54 (2013-06-28), S. 153-163
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    The Characteristics of Gettering Ability in Advanced Multi-Chip Packaging Thinned Wafer
    Sung Min Hwang ; Kim, Jang-Seop ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 319-326
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    (Invited) Silicon Compatible High Performance Optical Interconnect Technology
    Birendra Raj Dutt
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 371-380
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    (Invited) Heterogeneously Integrated III-V on Silicon for Future Nanoelectronics
    Hudait, Mantu K.
    In: ECS Transactions, Jg. 45 (2012-04-27), S. 581-594
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Carbon-Based Nanomaterial for Nanoelectronics
    Wei, Hai ; Chen, Hong-Yu ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 259-269
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Technology Evolution of Silicon Nano-Electronics
    Zaima, Shigeaki
    In: ECS Transactions, Jg. 25 (2009-09-25), S. 33-47
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    Impact of Confinement and Stress on the Subband Parameters in Ultra-Thin Silicon Films
    Sverdlov, Viktor ; Schanovsky, Franz ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 23 (2009-09-04), S. 389-396
    Online unknown
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