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    Low Dark Current and High Speed InGaAs Photodiode on CMOS-Compatible Silicon by Heteroepitaxy
    Shi, Bei ; Zhu, Si ; et al.
    In: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Jg. 28 (2022-03-01), S. 1-8
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    Study of CMOS Sensing System for Radon and Alpha Radiation
    Nemirovsky, Yael ; Shor, Roy
    In: Radiation, Jg. 1 (2021-09-01), Heft 21, S. 250-260
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    Back-End-of-Line Compatible Fully Depleted CMOS Inverters Employing Ge p-FETs and α-InGaZnO n-FETs
    Han, Kaizhen ; Wang, Chengkuan ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-10-01), S. 1488-1491
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    Performance Analysis of CMOS Circuits using Shielded Channel Dual Gate Stack Silicon on Nothing Junctionless Transistor
    Wagaj, S.C. ; Patil, S.C. ; et al.
    In: International Journal of Engineering and Advanced Technology, Jg. 10 (2021-08-30), S. 1-10
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    Low-Voltage, High-Brightness Silicon Micro-LEDs for CMOS Photonics
    Kramnik, Danielius ; Nong, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-08-01), S. 3870-3875
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    Benchmarking Silicon FinFET With the Carbon Nanotube and 2D-FETs for Advanced Node CMOS Logic Application
    Uttam Kumar Das ; Muhammad Mustafa Hussain
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3643-3648
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    Reduced Drift of CMOS ISFET pH Sensors Using Graphene Sheets
    Fobelets, Kristel ; Panteli, Christoforos ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-07-01), S. 14609-14618
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    Schottky-Embedded Silicon-Controlled Rectifier With High Holding Voltage Realized in a 0.18-μm Low-Voltage CMOS Process
    Peng, Bo-Wei ; Chang, Rong-Kun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1764-1771
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    Carbon-based CMOS integrated circuit technology: development status and future challenges
    Liu, Chenchen ; Zhang, Zhiyong
    In: SCIENTIA SINICA Chimica, Jg. 51 (2021-05-20), S. 1457-1473
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    Buried Power Rail Integration With FinFETs for Ultimate CMOS Scaling
    Paolillo, S. ; Boccardi, Guillaume ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), S. 5349-5354
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    Introduction of Laser Pi-Grooving as Breakthrough Solution to Enhance die Strength of 40 nm ulow-k CMOS Silicon Technology during Wafer Saw Process
    Aiza Marie Agudon ; Bryan Christian S. Bacquian ; et al.
    In: Journal of Engineering Research and Reports, 2021-04-15, S. 26-36
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    (Invited) On the Potential of Lateral BJTs and SiGe HBTs in Advanced CMOS Technologies
    Koricic, Marko ; Osrecki, Zeljko ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 98 (2020-09-08), S. 111-117
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    Peculiarities of the method in internal formation of structures in bipolar and CMOS technologies
    Solodukha, Vitaly A. ; Solovyov, Yaroslav A. ; et al.
    In: Yugra State University Bulletin, Jg. 15 (2019-12-10), S. 44-61
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    Statistical Behavioral Models of Silicon Ring Resonators at a Commercial CMOS Foundry
    Baudot, Charles ; Boeuf, Frederic ; et al.
    In: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Jg. 26 (2020-03-01), S. 1-10
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    CMOS Compatible Plasmonic Refractive Index Sensor based on Heavily Doped Silicon Waveguide
    R. Al Mahmud ; Rakibul Hasan Sagor ; et al.
    In: Engineering, Technology & Applied Science Research, Jg. 10 (2020-02-03), S. 5295-5300
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    Fabrication of CMOS Invertors in Si Thin-Film-Transistors by Laser Doping Using a Chemical Solution Coating
    Goto, Tetsuya ; Suwa, Akira ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 27-32
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    Design of Ka band Low Noise Amplifier Based on 65nm CMOS Technology
    Wu, Shiwei ; Pang, Dongwei ; et al.
    In: 2021 International Applied Computational Electromagnetics Society (ACES-China) Symposium, 2021-07-28
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    Ultra Low Voltage Sub-100 mV Vdd CMOS
    Aunet, Snorre
    In: 2021 19th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), 2021-06-13
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    A 0.85 V CMOS voltage and current reference using SCCTs
    Moreno, Robson L. ; Thainann H. P. de Castro ; et al.
    In: 2021 19th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), 2021-06-13
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    Characteristics of Hetero-Integrated GaN-HEMTs on CMOS Technology by Micro-Transfer-Printing
    Nis Hauke Hansen ; Waltereit, Patrick ; et al.
    In: 2021 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2021-05-30
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