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    Tunable single hole regime of a silicon field effect transistor in standard CMOS technology
    Turchetti, Marco ; Prati, Enrico ; et al.
    In: Applied Physics Express, Jg. 9 (2015-12-11), S. 014001-14001
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    PIXIE III: a very large area photon-counting CMOS pixel ASIC for sharp X-ray spectral imaging
    P. L. de Ruvo ; Vincenzi, A. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-01-22), S. C01032
    Online unknown
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    Single-photon emission from electrically driven InP quantum dots epitaxially grown on CMOS-compatible Si(001)
    Wiesner, M ; Schulz, W-M ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 23 (2012-07-30), S. 335201-335201
    Online unknown
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    Silicon and germanium nanowire electronics: physics of conventional and unconventional transistors
    Weber, Walter M. ; Mikolajick, Thomas
    In: Reports on Progress in Physics, Jg. 80 (2017-04-10), S. 066502-66502
    Online unknown
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    Radiation Hard Silicon Particle Detectors for Phase-II LHC Trackers
    Oblakowska-Mucha, Agnieszka ; Pintilie, Ioana ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-02-16), S. C02054
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    Silicon nanoelectronics for the 21st century
    Hu, Chenming
    In: Nanotechnology, Jg. 10 (1999), S. 113-116
    Online unknown
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    Device physics and design of T-gate Schottky barrier tunnel FET with adaptive operation mechanism
    Wang, Yangyuan ; Huang, Qianqian ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 29 (2014-08-05), S. 095013-95013
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Energy loss measurement for charged particles in very thin silicon layers
    Passeri, Daniele ; Meroli, S ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-06-29), S. P06013
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Epitaxy of GaN on silicon—impact of symmetry and surface reconstruction
    Veit, Peter ; Krost, Alois ; et al.
    In: New Journal of Physics, Jg. 9 (2007-10-31), S. 389-389
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Silicon pixel sensor R&D for the CLIC tracking detector
    Kröger, J.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-08-05), S. C08005
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Development of the front end amplifier circuit for the ATLAS ITk silicon strip detector
    Kaplon, J. ; Li, Z. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-07-01), S. P07061
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Impact of crystal orientation on ohmic contact resistance of enhancement-mode p-GaN gate high electron mobility transistors on 200 mm silicon substrates
    Geens, Karen ; Posthuma, Niels ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-02-14), S. 04FG02
    Online unknown
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    Development of a low-noise readout ASIC for Silicon Drift Detectors in high energy resolution X-ray spectrometry
    Levin, V. ; Shumikhin, V. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-03-10), S. C03039
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Predictions for proton and heavy ions induced SEUs in 65 nm SRAMs
    Long, Fan ; Hong-Xia, Liu ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 36 (2015-11-01), S. 114010-114010
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    SOI monolithic pixel detector
    Tauchi, K. ; Ikemoto, Y. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-05-22), S. C05044
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    GridPix application to dual phase TPC
    Michael Patrick Decowski ; Harry van der Graaf ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 460 (2013-10-04), S. 012019-12019
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Wafer-Level Electrical Evaluation of Vertical Carbon Nanotube Bundles as a Function of Growth Temperature
    Hantschel, Thomas ; Cott, Daire J. ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 52 (2013-03-21), S. 04CN02
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Aluminum nitride as a new material for chip-scale optomechanics and nonlinear optics
    Sun, Xiankai ; Tang, Hong X. ; et al.
    In: New Journal of Physics, Jg. 14 (2012-09-17), S. 095014-95014
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A combined approach to the simulation of ionizing radiation effects in silicon devices
    Ozdemir, T ; Mencaroni, A ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-05-03), S. T05001
    Online unknown
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