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    Measurement and modeling of high-speed interconnect-limited digital ring oscillators: The effect of dielectric anisotropy
    Y.L. Le Coz ; Greub, H.J. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 1998 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.98EX102), 2002-11-27
    Online unknown
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    A methodology for full-chip extraction of interconnect capacitance using Monte Carlo-based field solvers
    Iverson, R.B. ; Y.L. Le Coz
    In: SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest, 2002-11-22
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
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    A multi-scale random-walk thermal-analysis methodology for complex IC-interconnect systems
    Kleveland, Bendik ; Y.L. Le Coz ; et al.
    In: 2000 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (Cat. No.00TH8502), 2002-11-07
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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