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  1. Cheng, Weijie ; Chung, Yeonbae
    In: IEICE Electronics Express, Jg. 7 (2010), S. 1145-1151
    Online unknown
  2. Sheng, Duo ; Chang, Chia-Lin ; et al.
    In: IEICE Electronics Express, Jg. 8 (2011), S. 518-524
    Online unknown
  3. Zhang, Yuejun ; Li, Gang ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 38 (2017-09-01), S. 095002-95002
    Online unknown
  4. Horstmann, J. T. ; Goser, K. F.
    In: Microelectronic Engineering, 2003-06-01, S. 390-396
    Online unknown
  5. Anderson, Warren R. ; Juliano, P.
    In: Journal of Electrostatics, Jg. 62 (2004-10-01), S. 113-131
    Online unknown
  6. Sousa, Marilyne ; Moselund, Kirsten E. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 185 (2021-11-01), S. 108077-108077
    Online unknown
  7. Belhaire, Eric ; Zhao, Weisheng ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 205 (2008-06-01), S. 1373-1377
    Online unknown
  8. Buxo, J. ; M. Puig Vidal ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 19 (1992-09-01), S. 161-164
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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