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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 515-518KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 653-658KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 649-652KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 583-586KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 553-556KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 431-434KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 457-460KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS OF THE IEEE CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, 2005, S. 545-548KonferenzZugriff: