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In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 48-61academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2357-2365academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 1, S. 43-51academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1880-1886academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 62-70academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 12, S. 2057-2069academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 445-451academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 12, S. 1343-1352academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 6, S. 903-912academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 10, S. 639-650academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 1, S. 20-25academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1693-1703academicJournalZugriff: