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    RF CMOS body-effect circuits
    THIERRY, Taris ; JEAN-BAPTISTE, Begueret ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1251-1260
    Konferenz
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    Piezoresistive cantilevers in a commercial CMOS technology for intermolecular force detection
    VILLANUEVA, Guillermo ; PEREZ-MURANO, Francesc ; et al.
    In: Proceedings of the 31st International Conference on Micro- and Nano-Engineering: 19-22 September 2005, Vienna, Austria, Jg. 83 (2006), Heft 4-9, S. 1302-1305
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Materials and device structures for sub-32 nm CMOS nodes
    SKOTNICKI, Thomas
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 1845-1852
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Transmission lines fabricated with CMOS interconnect technology
    GUO, LIHUI ; ZHANG, YIBIN ; et al.
    In: INFOS 2003 Proceedings of the 13th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors: June 18-20, Jg. 72 (2004), Heft 1-4, S. 223-229
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS humidity sensor with on-chip calibration
    QIU, Y. Y ; AZEREDO-LEME, C ; et al.
    In: Selected papers from Eurosensors XIV, Copenhagen, Denmark, 27-30 August 2000, Jg. 92 (2001), Heft 1-3, S. 80-87
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Reducing average and peak temperatures of VLSI CMOS circuits by means of evolutionary algorithm applied to high level synthesis
    KOZIEL, Slawomir ; SZCZESNIAK, Wladyslaw
    In: Therminic '02, Jg. 34 (2003), Heft 12, S. 1167-1174
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    GHz counting rate NbN single-photon detector for IR diagnostics of VLSI CMOS circuits
    KORNEEV, Alexander ; LIPATOV, A ; et al.
    In: Proceedings of the Symposium and Summer School on: Nano and Giga Challenges in Microelectronics Research and Opportunities in Russia, Jg. 69 (2003), Heft 2-4, S. 274-278
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    3D Integration of CMOS transistors with ICV-SLID technology
    WIELAND, Robert ; BONFERT, Detlef ; et al.
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 529-533
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Organic CuTCNQ non-volatile memories for integration in the CMOS backend-of-line : Preparation from gas/solid reaction and downscaling to an area of 0.25 μm2
    MÜLLER, Robert ; DE JONGE, Stijn ; et al.
    In: Papers selected from the 35th European Solid-State Device Research Conference - ESSDERC'05, Jg. 50 (2006), Heft 4, S. 601-605
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    High-k gate stacks for planar, scaled CMOS integrated circuits
    HUFF, H. R ; HOU, A ; et al.
    In: Proceedings of the Symposium and Summer School on: Nano and Giga Challenges in Microelectronics Research and Opportunities in Russia, Jg. 69 (2003), Heft 2-4, S. 152-167
    Konferenz
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    On-chip embedded toroidal solenoid inductors and transformers formed by post-CMOS micromachining techniques
    LEI, GU ; XINXIN, LI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 4, S. 697-703
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Voltage optimization for simultaneous energy efficiency and temperature variation resilience in CMOS circuits
    KUMAR, Ranjith ; KURSUN, Volkan
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 4-5, S. 583-594
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Impact of technology scaling and process variations on RF CMOS devices
    HASSAN, Hassan ; ANIS, Mohab ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 4, S. 275-282
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Metallic bonding methodology for heterogeneous integration of optoelectronic dies to CMOS circuits
    ROBOGIANNAKIS, P ; KYRIAKIS-BITZAROS, E. D ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 4, S. 727-732
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Design and testing of a self-powered 3D integrated SOI CMOS system
    DILLI, Z ; GOLDSMAN, N ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 2, S. 388-394
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A high current gain gate-controlled lateral bipolar junction transistor with 90 nm CMOS technology for future RF SoC applications
    CHEN, Shuo-Mao ; FANG, Yean-Kuen ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 52 (2008), Heft 8, S. 1140-1144
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Design and modelling of a multi-standard fractional PLL in CMOS/SOI technology
    JACQUEMOD, Gilles ; GEYNET, Lionel ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 9, S. 1130-1139
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Fault detection in CMOS/SOI mixed-signal circuits using the quiescent current test
    DE VENUTO, D ; KAYAL, M ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 33 (2002), Heft 5-6, S. 387-397
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Electrothermal simulation of SOI CMOS analog integrated circuits
    FEIXIA, YU ; CHENG, Ming-C
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 5, S. 691-702
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    An automatic parameter extraction technique for advanced CMOS device modeling using genetic algorithm : On VLSI design and test
    YIMING, LI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 84 (2007), Heft 2, S. 260-272
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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