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    Level Shifters and DCVSL for a Low-Voltage CMOS 4.2-V Buck Converter
    da Rocha, J. F. ; dos Santos, M. B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 55 (2008-09-01), Heft 9, S. 3315-3323
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    ESD-Protected Power Amplifier Design in CMOS for Highly Reliable RF ICs
    Wang, X. ; Guan, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 58 (2011-07-01), Heft 7, S. 2736-2743
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Analog Functions Implemented on Digital CMOS Gate Arrays---Merits and Problems
    Hagelauer, Richard ; Ronge, Karlheinz
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. IE-33 (1986-11-01), Heft 4, S. 371
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    New Transient Detection Circuit for On-Chip Protection Design Against System-Level Electrical-Transient Disturbance
    Ker, M. D. ; Yen, C. C.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 57 (2010-10-01), Heft 10, S. 3533-3543
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Transient-Voltage-Clamp Circuit Design Based on Constant Load Line Impedance for Voltage Regulator Module
    Lim, S. ; Fan, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 12, S. 4085-4094
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Fundamentals of testability-a tutorial
    Fritzemeier, R.R. ; Nagle, H.T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 36 (1989-05-01), Heft 2, S. 117-128
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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