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    Study of contact and shallow junction characteristics in submicron CMOS with self-aligned titanium silicide
    TAUR, Y ; DAVARI, B ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 31 (1987), Heft 6, S. 627-633
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Charge-metering sampling circuits and their applications
    SCHLIG, E. S
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 6, S. 631-640
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    IC technology and ASIC design for the Cray J90 supercomputer
    POLI, D. J ; BERRY, M. S ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 4, S. 475-483
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    SEMM-2 : A new generation of single-event-effect modeling tools
    TANG, H. H. K
    In: Soft errors in circuits and systems, Jg. 52 (2008), Heft 3, S. 233-244
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Fabrication and characterization of robust through-silicon vias for silicon-carrier applications
    ANDRY, P. S ; TSANG, C. K ; et al.
    In: 3D chip technology, Jg. 52 (2008), Heft 6, S. 571-581
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Photoresists for 193-nm lithography : Optical lithography
    ALLEN, R. D ; WALLRAFF, G. M ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 1-2, S. 95-104
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Negative photoresists for optical lithography : Optical lithography
    SHAW, J. M ; GELORME, J. D ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 1-2, S. 81-94
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    PowerPC AS A10 64-bit RISC microprocessor
    BISHOP, J. W ; CAMPION, M. J ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 4, S. 495-505
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Design methodology for IBM ASIC products
    ENGEL, J. J ; GUZOWSKI, T. S ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 4, S. 387-406
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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