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- design. technologies. operation analysis. testing 573 Treffer
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- electric, optical and optoelectronic circuits 384 Treffer
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691 Treffer
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In: Electronics letters, Jg. 48 (2012), Heft 14, S. 842-844academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 48 (2012), Heft 7, S. 361-363academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 47 (2011), Heft 11, S. 659-661academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 46 (2010), Heft 8, S. 567-569academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 45 (2009), Heft 22, S. 1138-1140academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 47 (2011), Heft 6, S. 372-374academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 44 (2008), Heft 7, S. 467-469academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 44 (2008), Heft 5, S. 346-348academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 41 (2005), Heft 7, S. 382-384academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 43 (2007), Heft 24, S. 1362-1364academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 43 (2007), Heft 23, S. 1274-1276academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 43 (2007), Heft 21, S. 1140-1142academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 43 (2007), Heft 8, S. 452-454academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 42 (2006), Heft 14, S. 803-805academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 42 (2006), Heft 4, S. 208-210academicJournalZugriff:
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In: Electronics Letters, Jg. 41 (2005), Heft 3, S. 122-124academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 48 (2012), Heft 21, S. 1328-1329academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 47 (2011), Heft 4, S. 277-278academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 47 (2011), Heft 9, S. 544-545academicJournalZugriff:
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In: Electronics letters, Jg. 46 (2010), Heft 9, S. 640-641academicJournalZugriff: