Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
5 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Sprache

5 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Simulated SEU hardened scaled CMOS SRAM cell design using gated resistors
    ROCKETT, L. R
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 39 (1992), Heft 5, S. 1532-1541
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    A circuit design for the improvement of radiation hardness in CMOS digital circuits
    CHAO-CHENG, CHEN ; SOW-CHANG, LIU ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 39 (1992), Heft 2, S. 272-277
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Comparison of photocurrent enhancement and upset enhancement in CMOS devices in a medium-energy X-ray environment
    BEUTLER, D. E ; BEEZHOLD, W ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 37 (1990), Heft 4, S. 1541-1547
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Radiation-tolerant 50 MHz bulk CMOS VLSI circuits utilizing radiation-hard structure NMOS transistors
    HATANO, H ; TAKATSUKA, S
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 33 (1986), Heft 5, S. 1126-1130
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Laser simulation of single-event upset in a p-well CMOS counter
    MAZER, J. A ; KANG, K ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 36 (1989), Heft 1, S. 1330-1332
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -