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    A study of gateless OTP cell using a 45 nm CMOS compatible process
    TSAI, Yi-Hung ; LIN, Kai-Chun ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 53 (2009), Heft 10, S. 1092-1098
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience : RELIABILITY AND VARIABILITY OF DEVICES FOR CIRCUITS AND SYSTEMS
    HERKERSDORF, Andreas ; ALIEE, Hananeh ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 6-7, S. 1066-1074
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Real-time soft-error rate measurements: A review
    AUTRAN, J. L ; MUNTEANU, D ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 8, S. 1455-1476
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Study of nanocrystal memory integration in a Flash-like NOR device
    GERARDI, Cosimo ; LOMBARDO, Salvatore ; et al.
    In: 14TH Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006), Jg. 47 (2007), Heft 4-5, S. 593-597
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Novel RAM cell designs based on inherent capabilities of quantum-dot cellular automata
    MOSTAFA ABDOLLAHIAN, DEHKORDI ; ABBAS SHAHINI, SHAMSABADI ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 5, S. 701-708
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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