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In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 90-99academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2357-2365academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 4, S. 247-255academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 1000-1006academicJournalZugriff:
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In: Organic electronics (Print), Jg. 10 (2009), Heft 7, S. 1217-1222academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 48 (2008), Heft 1, S. 29-36academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 48 (2015), S. 83-100academicJournalZugriff:
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In: Organic electronics (Print), Jg. 14 (2013), Heft 12, S. 3362-3370academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 45 (2012), Heft 2, S. 111-120academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 5, S. 661-666academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 973-978academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1880-1886academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1874-1879academicJournalZugriff: