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    Radiation Hardening of Digital Color CMOS Camera-on-a-Chip Building Blocks for Multi-MGy Total Ionizing Dose Environments
    Marco Van Uffelen ; Rolando, Sébastien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 2017
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Multi-MGy Radiation Hardened CMOS Image Sensor: Design, Characterization and X/Gamma Rays Total Ionizing Dose Tests
    Marcandella, Claude ; Goiffon, Vincent ; et al.
    2015
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Multi-MGy Total Ionizing Dose Induced MOSFET Variability Effects on Radiation Hardened CMOS Image Sensor Performances
    Rizzolo, Serena ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: 2017 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2017-10-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Multi-MGy Radiation Hard CMOS Image Sensor: Design, Characterization and X/Gamma Rays Total Ionizing Dose Tests
    Goiffon, V. ; Corbiere, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-12-01), Heft 6, S. 2956-2964
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Radiation Hardening of Digital Color CMOS Camera-on-a-Chip Building Blocks for Multi-MGy Total Ionizing Dose Environments
    Goiffon, V. ; Rolando, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), Heft 1, S. 45-45
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -