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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), Heft 1Online academicJournal
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018), Heft 7, S. 935-938Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 41 (2020-08-01), Heft 8, S. 1257-1260Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022), S. 52-55Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-10-01), S. 1488-1491Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-12-01), S. 1849-1852Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), S. 1244-1247Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-07-01), S. 1045-1048Online unknownZugriff:
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Highly Sensitive DNA Detection Beyond the Debye Screening Length Using CMOS Field Effect TransistorsIn: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), S. 1220-1223Online unknownZugriff: