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    academicJournal
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    Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation.
    Shvetsov-Shilovskiy, Ivan I. ; Chumakov, Alexander I. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1540-1546
    Online academicJournal
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    Characterization of Single-Event Transient Pulse Quenching among Dummy Gate Isolated Logic Nodes in 65 nm Twin-Well and Triple-Well CMOS Technologies.
    Jianjun, Chen ; Shuming, Chen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-10-15), Heft 5b, S. 2302-2309
    Online academicJournal
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    Monolithic Multi-Element HPGe Detector Equipped With CMOS Preamplifiers: Construction and Characterization of a Demonstrator.
    Tartoni, Nicola ; Crook, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-02-02), Heft 1, S. 387-394
    Online academicJournal
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    A 2.56-GHz SEU Radiation Hard $LC$ -Tank VCO for High-Speed Communication Links in 65-nm CMOS Technology.
    Prinzie, Jeffrey ; Christiansen, Jorgen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), Heft 1, S. 407-412
    Online academicJournal
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    CMOS Rad-Hard Front-End Electronics for Precise Sensors Measurements.
    Sordo-Ibanez, Samuel ; Pinero-Garcia, Blanca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-08-15), Heft b4, S. 2379-2389
    Online academicJournal
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    A Self-Triggered Column-Level ADC for CMOS Pixel Sensors in High Energy Physics.
    Zhang, Liang ; Morel, Frederic ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-06-10), Heft 3, S. 1269-1277
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Logic-I/O Threshold Comparing $\gamma$-Dosimeter in Radiation Insensitive Deep-Sub-Micron CMOS.
    Tang, Adrian ; Kim, Yangyho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-04-20), Heft 2c, S. 1247-1250
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Supply Voltage Dependency on the Single Event Upset Susceptibility of Temporal Dual-Feedback Flip-Flops in a 90 nm Bulk CMOS Process.
    Hasanbegovic, Amir ; Aunet, Snorre
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-15), Heft 4b, S. 1888-1897
    Online academicJournal
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    A CMOS Triple Inter-Locked Latch for SEU Insensitivity Design.
    Li, Tianwen ; Yang, Haigang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3265-3273
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS Flat-Panel X-ray Detector With Dual-Gain Active Pixel Sensors and Column-Parallel Readout Circuits.
    Jo, Yun-Rae ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-10-01), Heft 5, S. 2472-2479
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    academicJournal
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    Temperature Dependence of MCU Sensitivity in 65 nm CMOS SRAM.
    Boruzdina, Anna B. ; Sogoyan, Armen V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-12-01), Heft 6a, S. 2860-2866
    Online academicJournal
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    SET Tolerance of 65 nm CMOS Majority Voters: A Comparative Study.
    Danilov, Igor A. ; Gorbunov, Maxim S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 4, S. 1597-1602
    Online academicJournal
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    Radiation-Hardening Technique for Voltage Reference Circuit in a Standard 130 nm CMOS Technology.
    Piccin, Y. ; Lapuyade, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-03-01), Heft 2, S. 967-974
    Online academicJournal
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    Radiation Tolerance of Devices and Circuits in a 3D Technology Based on the Vertical Integration of Two 130-nm CMOS Layers.
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), Heft 6, S. 4526-4532
    Online academicJournal
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    X-ray Performance Evaluation of the Dexela CMOS APS X-ray Detector Using Monochromatic Synchrotron Radiation in the Mammographic Energy Range.
    Konstantinidis, Anastasios C. ; Szafraniec, Magdalena B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-22), Heft 5, S. 3969-3980
    Online academicJournal
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    Modeling Charge Loss in CMOS MAPS Exposed to Non-Ionizing Radiation.
    Ratti, Lodovico ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-07-10), Heft 4, S. 2574-2582
    Online academicJournal
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    A 4.5 MGy TID-Tolerant CMOS Bandgap Reference Circuit Using a Dynamic Base Leakage Compensation Technique.
    Cao, Ying ; De Cock, Wouter ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-07-10), Heft 4, S. 2819-2824
    Online academicJournal
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    CMOS Differential and Amplified Dosimeter with Field Oxide N-Channel MOSFETs.
    Carbonetto, S. ; GarcianInza, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3466-3471
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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