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    A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits
    ESQUEDA, Ivan S ; BARNABY, Hugh J
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 81-86
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range
    FERNANDEZ-GARCIA, R ; KACZER, B ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 49 (2009), Heft 8, S. 885-891
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Modeling the sensitivity of CMOS circuits to radiation induced single event transients
    WIRTH, Gilson I ; VIEIRA, Michele G ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 48 (2008), Heft 1, S. 29-36
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Variation-aware approaches with power improvement in digital circuits
    MIRZAEI, Mohammad ; MOSAFFA, Mahdi ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 48 (2015), S. 83-100
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Implementation of low power adder design and analysis based on power reduction technique
    JEONG, Taikyeong T
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1880-1886
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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