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    From Material to Cameras: Low‐Dimensional Photodetector Arrays on CMOS.
    Ansari, Samaneh ; Bianconi, Simone ; et al.
    In: Small Methods, Jg. 8 (2024-02-01), Heft 2, S. 1-23
    Online academicJournal
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    Full Text Finder (Volltext)
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    A 0.5° Error 10 mW CMOS Image Sensor-Based Gaze Estimation Processor.
    Bong, Kyeongryeol ; Hong, Injoon ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 51 (2016-04-01), Heft 4, S. 1032-1040
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Effects of Parasitic Resistance on the Performance of Silicon Avalanche Photodetectors in Standard CMOS Technology.
    Lee, Myung-Jae ; Choi, Woo-Young
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), Heft 1, S. 60-63
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    An Implantable CMOS Image Sensor With Self-Reset Pixels for Functional Brain Imaging.
    Sasagawa, Kiyotaka ; Yamaguchi, Takahiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 215-222
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A 1.7-in, 33-Mpixel, 120-frames/s CMOS Image Sensor With Depletion-Mode MOS Capacitor-Based 14-b Two-Stage Cyclic A/D Converters.
    Yasue, Toshio ; Kitamura, Kazuya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 153-161
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Nonuniformity Analysis of a 65-kpixel CMOS SPAD Imager.
    Antolovic, Ivan Michel ; Burri, Samuel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 57-64
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A Review of CMOS Photodiode Modeling and the Role of the Lateral Photoresponse.
    Blanco-Filgueira, Beatriz ; Lopez Martinez, Paula ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 16-25
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    3-D-Stacked 16-Mpixel Global Shutter CMOS Image Sensor Using Reliable In-Pixel Four Million Microbump Interconnections With 7.6- \mu \textm Pitch.
    Kondo, Toru ; Takazawa, Naohiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 128-137
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Biometrics for electronic eyes: system authentication with embedded CMOS image sensor.
    Kim, Seung-Chan ; Lim, Soo-Chul ; et al.
    In: IEEE Transactions on Consumer Electronics, Jg. 62 (2016-08-01), Heft 3, S. 209-215
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Gate Engineering to Improve Effective Resistance of 28-nm High- $k$ Metal Gate CMOS Devices.
    Jeong, Jin ; Hyuk ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 259-264
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    CMOS-Compatible PureGaB Ge-on-Si APD Pixel Arrays.
    Sammak, Amir ; Aminian, Mahdi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 92-99
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Low Dark Count p-i-n Diode Based SPAD in CMOS Technology.
    Veerappan, Chockalingam ; Charbon, Edoardo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 65-71
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Enhanced Near-Infrared Response CMOS Image Sensors Using High-Resistivity Substrate: Photodiodes Design Impact on Performances.
    Lincelles, Jean-Baptiste ; Marcelot, Olivier ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 120-127
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Charge Transfer Model for CMOS Image Sensors.
    Han, Liqiang ; Yao, Suying ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 32-41
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Column-Parallel Inverter-Based Cyclic ADC for CMOS Image Sensor With Capacitance and Clock Scaling.
    Tang, Fang ; Wang, Bo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 162-167
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Fast-Gated CMOS Image Sensor With a Vertical Overflow Drain Shutter Mechanism.
    Tadmor, Erez ; Lahav, Assaf ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 138-144
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Temporal Readout Noise Analysis and Reduction Techniques for Low-Light CMOS Image Sensors.
    Boukhayma, Assim ; Peizerat, Arnaud ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 72-78
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A 10 ps Time-Resolution CMOS Image Sensor With Two-Tap True-CDS Lock-In Pixels for Fluorescence Lifetime Imaging.
    Seo, Min-Woong ; Kagawa, Keiichiro ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 51 (2016), Heft 1, S. 141-154
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Design Impact on Charge Transfer Inefficiency of Surface CCD on CMOS Devices: TCAD and Characterization Study.
    Marcelot, Olivier ; Molina, Romain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-03-01), Heft 3, S. 1099-1104
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A 0.27e ^-\text {rms} Read Noise 220- \mu \textV/\texte^- Conversion Gain Reset-Gate-Less CMOS Image Sensor With 0.11- \mu \textm CIS Process.
    Seo, Min-Woong ; Kawahito, Shoji ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-12-01), Heft 12, S. 1344-1347
    Online academicJournal
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    Volltext
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xs 0 - 576
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