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    Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation.
    Shvetsov-Shilovskiy, Ivan I. ; Chumakov, Alexander I. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1540-1546
    Online academicJournal
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    Radiation Tolerance of Devices and Circuits in a 3D Technology Based on the Vertical Integration of Two 130-nm CMOS Layers.
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), Heft 6, S. 4526-4532
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Degradation of CMOS APS Image Sensors Induced by Total Ionizing Dose Radiation at Different Dose Rates and Biased Conditions.
    Zujun, Wang ; Changju, Liu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-04-01), Heft 2, S. 527-533
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Total Dose Effects in Tunnel-Diode Body-Contact SOI nMOSFETs.
    Luo, Jiexin ; Chen, Jing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3018-3022
    Online academicJournal
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    SRAM Alpha-SER Estimation From Word-Line Voltage Margin Measurements: Design Architecture and Experimental Results.
    Torrens, G. ; Paul, I. de ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 4, S. 1849-1855
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Study of the Radiation Hardness of Irradiated AToM Front-End Chips of the BaBar Silicon Vertex Tracker.
    Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-04-01), Heft 2, S. 584-588
    Online academicJournal
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    Exploring Well-Configurations for Minimizing Single Event Latchup.
    Uemura, Taiki ; Kato, Takashi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3282-3289
    Online academicJournal
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    On-Orbit Error Rates of RHBD SRAMs: Comparison of Calculation Techniques and Space Environmental Models With Observed Performance.
    Bogorad, Alexander L. ; Likar, Justin J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 6, S. 2804-2806
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Radiation Hardening of Voltage References Using Chopper Stabilization.
    Shetler, K. J. ; Atkinson, N. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-12-01), Heft 6a, S. 3064-3071
    Online academicJournal
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