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  1. Rajashekhar, K. ; Kiladibaboji ; et al.
    In: 2022 International Conference on Advances in Computing, Communication and Applied Informatics (ACCAI), 2022-01-28, S. 1-6
    Konferenz
  2. Bundalo, Dusanka ; Bundalo, Zlatko ; et al.
    In: 2012 Proceedings of the 35th International Convention MIPRO, 2012-05-01, S. 97-102
    Konferenz
  3. Alioto, Massimo
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 1468-1471
    Konferenz
  4. Kho Ching Tee, Elizabeth ; Pal, Deb Kumar ; et al.
    In: 2010 International Conference on Electronic Devices, Systems and Applications, 2010-04-01, S. 289-293
    Konferenz
  5. Kamar, Zafrullah ; Nepal, Kundan
    In: 2010 53rd IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2010-08-01, S. 801-804
    Konferenz
  6. Lin, W. C. H. ; Kuo, J. B.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 3833-3836
    Konferenz
  7. Niiyama, Taro ; Piao, Zhe ; et al.
    In: Proceeding of the 13th international symposium on Low power electronics and design (ISLPED '08), 2008-08-01, S. 117-122
    Online Konferenz
  8. Haga, Y. ; Zare-Hoseini, H. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2005, S. 220-223
    Konferenz
  9. Kuo, J.B.
    In: Fifth International Workshop on System-on-Chip for Real-Time Applications (IWSOC'05), 2005, S. 143-148
    Konferenz
  10. Breitwisch, M.J. ; Lam, C.H. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT'05), 2005, S. 9-12
    Konferenz
  11. Lin, Heng-Yao ; Lin, Chi-Sheng ; et al.
    In: The 2004 IEEE Asia-Pacific Conference on Circuits and Systems,, Jg. 1 (2004), S. 349-352
    Konferenz
  12. Abbas, M. ; Ikeda, M. ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, Jg. 3 (2004), S. 2031-2034
    Konferenz
  13. von Arnim, K. ; Borinski, E. ; et al.
    In: Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference, 2004, S. 175-178
    Konferenz
  14. Abbas, M. ; Ikeda, M. ; et al.
    In: 19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT, 2004, S. 87-95
    Konferenz
  15. Lin, Che-I ; Lai, Cheng-Hsiao ; et al.
    In: Proceedings of 2004 IEEE Asia-Pacific Conference on Advanced System Integrated Circuits, 2004, S. 124-127
    Konferenz
  16. Hiramoto, T.
    In: IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Technology,, 2005, S. 1-4
    Konferenz
  17. Akino, T. ; Matsuura, K. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2005, S. 452-455
    Konferenz
  18. Cerutti, R. ; Coronel, P. ; et al.
    In: 2005 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology, 2005. ICICDT, 2005, S. 203-206
    Konferenz
  19. Henzler, S. ; Nirschl, T. ; et al.
    In: 2005 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology, 2005. ICICDT, 2005, S. 223-228
    Konferenz
  20. Pacha, C. ; Martin, B. ; et al.
    In: Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850), 2004, S. 397-400
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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