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  1. Oohori, T. ; Saito, H. ; et al.
    In: 2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's, 2006, S. 1-4
    Konferenz
  2. Zhang, Min ; Sun, Jin-guang ; et al.
    In: 2010 International Conference on Intelligent Computation Technology and Automation, Jg. 2 (2010-05-01), S. 1039-1042
    Konferenz
  3. Pouliquen, Philippe O.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 4097-4100
    Konferenz
  4. Gopalan, Chakravarthy ; Ma, Yi ; et al.
    In: 2010 IEEE International Memory Workshop, 2010-05-01, S. 1-4
    Konferenz
  5. Kho Ching Tee, Elizabeth ; Pal, Deb Kumar ; et al.
    In: 2010 International Conference on Electronic Devices, Systems and Applications, 2010-04-01, S. 289-293
    Konferenz
  6. Mandai, Shingo ; Nakura, Toru ; et al.
    In: Melecon 2010 - 2010 15th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference, MELECON 2010 - 2010 15th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference, 2010-04-01, S. 280-285
    Konferenz
  7. Inaba, S. ; Nagano, H. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 2004 Custom Integrated Circuits Conference (IEEE Cat. No.04CH37571), 2004, S. 225-228
    Konferenz
  8. Fukuda, H.
    In: Proceedings. 34th International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2004, S. 128-134
    Konferenz
  9. Sun, W.F. ; Shi, L.X.
    In: Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2003, 2003, S. 25-28
    Konferenz
  10. Blesken, Matthias ; Lutkemeier, Sven ; et al.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 1480-1483
    Konferenz
  11. Atrash, A. ; Cassuto, G. ; et al.
    In: 2010 IEEE International Memory Workshop, 2010-05-01, S. 1-4
    Konferenz
  12. Al-Ahmadi, A. ; Kaya, S.
    In: 2005 International Conference On Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2005, S. 263-266
    Konferenz
  13. Sanduleanu, M.A.T. ; Ionita, R. ; et al.
    In: Proceedings of the 31st European Solid-State Circuits Conference, 2005. ESSCIRC, 2005, S. 109-112
    Konferenz
  14. Breitwisch, M.J. ; Lam, C.H. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT'05), 2005, S. 9-12
    Konferenz
  15. Wakabayashi, H. ; Tatsumi, T. ; et al.
    In: IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical, 2005, S. 145-148
    Konferenz
  16. Liang, Yung-Chih ; Sheu, Meng-Lieh ; et al.
    In: The 2004 IEEE Asia-Pacific Conference on Circuits and Systems,, Jg. 1 (2004), S. 257-260
    Konferenz
  17. Ker, Ming-Dou ; Chuang, Che-Hao
    In: Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743), 2004, S. 217-220
    Konferenz
  18. Yan, Ge ; Zhongjian, Chen ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, Jg. 2 (2004), S. 1333-1336
    Konferenz
  19. Sicard, E. ; Dhia, S.B.
    In: Proceedings of the Fifth IEEE International Caracas Conference on Devices, Circuits and Systems,, Jg. 1 (2004), S. 315-318
    Konferenz
  20. Moradi, F. ; Peiravi, A. ; et al.
    In: Proceedings of the International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and System, 2006. MIXDES, 2006, S. 210-213
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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