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    Statements versus Predicates in Spectral Bug Localization
    Naish, Lee ; Lee, Hua Jie ; et al.
    In: 2010 Asia Pacific Software Engineering Conference, 2010-11-01, S. 375-384
    Konferenz
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    Post-silicon bug diagnosis with inconsistent executions
    DeOrio, Andrew ; Khudia, Daya Shanker ; et al.
    In: 2011 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 2011-11-01, S. 755-761
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Post-Silicon Validation of the IBM POWER9 Processor
    Kolan, Tom ; Mendelson, Hillel ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 999-1002
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Form Factor Agnostic Platform Silicon to Software Scalable Validation and Debug Methodology
    Naware, Bhushan ; Pai, Arun ; et al.
    In: 2018 4th International Conference for Convergence in Technology (I2CT), 2018-10-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Assertion Coverage Aware Trace Signal Selection in Post-Silicon Validation
    Liu, Xiaobang ; Vemuri, Ranga
    In: 20th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2019-03-01, S. 271-277
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    BISCC: Efficient pre through post silicon validation of mixed-signal/RF systems using built in state consistency checking
    Deyati, Sabyasachi ; Muldrey, Barry ; et al.
    In: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017-03-01, S. 274-277
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Post-silicon validation of the IBM POWER8 processor
    Nahir, Amir ; Dusanapudi, Manoj ; et al.
    In: 2014 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014-06-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Automated trace signals selection using the RTL descriptions
    Ko, Ho Fai ; Nicolici, Nicola
    In: 2010 IEEE International Test Conference, 2010-11-01, S. 1-10
    Konferenz
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    Enabling efficient post-silicon debug by clustering of hardware-assertions
    Neishaburi, M. H. ; Zilic, Zeljko
    In: 2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010), 2010-03-01, S. 985-988
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Algorithms for compacting error traces
    Chen, Yirng-An ; Chen, Fang-Sung
    In: Proceedings of the ASP-DAC Asia and South Pacific Design Automation Conference,, 2003, S. 99-103
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Post-silicon debugging for multi-core designs
    Bertacco, Valeria
    In: 2010 15th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2010, S. 255
    Konferenz
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    Threadmill: A post-silicon exerciser for multi-threaded processors
    Adir, Allon ; Golubev, Maxim ; et al.
    In: 2011 48th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2011-06-01, S. 860-865
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    A Multi-Core Debug Platform for NoC-Based Systems
    Tang, Shan ; Xu, Qiang
    In: 2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Ad-Hoc Translations to Close Verilog Semantics Gap
    Haufe, Christian ; Rogin, Frank
    In: 2008 11th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, 2008-04-01, S. 1
    Konferenz
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    AutoRex: An automated post-silicon clock tuning tool
    Tadesse, D. ; Grodstein, J. ; et al.
    In: 2009 International Test Conference, 2009-11-01, S. 1
    Konferenz
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    A debug probe for concurrently debugging multiple embedded cores and inter-core transactions in NoC-based systems
    Tang, Shan ; Xu, Qiang
    In: 2008 Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2008, S. 416
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Low Cost Debug Architecture using Lossy Compression for Silicon Debug
    Anis, Ehab ; Nicolici, Nicola
    In: 2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007-04-01, S. 1
    Online Konferenz
    Zugriff:
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