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    (Invited)Extending Advanced CMOS Scaling with SiGe Channel Materials
    Rana, Uzma ; Sohn, D. K. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 85 (2018-04-09), S. 3-10
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    (Invited) Strained-SiGe Channel FinFETs for High-Performance CMOS: Opportunities and Challenges
    Ott, John A. ; Park, Dae-Gyu ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 66 (2015-03-31), S. 17-30
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    (Keynote) Atomic Layer Deposition Trends and Challenges in High-k/Metal Gate and Alternative Channel CMOS Processing
    Siddiqui, Shahab ; Dai, Min ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 60 (2014-02-27), S. 513-518
    Online unknown
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    (Invited) Changing Front-End Dielectric Requirements for End-of-the-Roadmap CMOS and Beyond
    Shi, Ningyu ; Hasan, M.M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 3-17
    Online unknown
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    (Invited) Non Planar Non Si CMOS - Challenges and Opportunities
    Hobbs, Chris ; Hill, Richard P. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 669-672
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    High Density Low Leakage SRAM Standby Current Reduction with a Channel Stop Implant in p-Type Well in 40nm CMOS Development
    Jin, Da ; Ju, Jianhua ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 52 (2013-03-08), S. 111-116
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    In-Situ Studies of Interfacial Bonding of High-k Dielectrics for CMOS Beyond 22nm
    Wallace, Robert M.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 255-271
    Online unknown
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    (Invited) Buried-Channel In0.7Ga0.3As MOSFETs and Vertical In0.7Ga0.3As Tunneling FETs for beyond CMOS Applications
    Zhou, Fei ; Zhao, Han ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 383-390
    Online unknown
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    Comparison Between Harmonic Distortion in Circular Gate and Conventional SOI nMOSFET Using 0.13 µm Partially-Depleted SOI CMOS Technology
    Salvador Pinillos Gimenez ; Leandro Poloni Dantas
    In: ECS Transactions, Jg. 11 (2007-09-28), S. 85-96
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    Modeling Techniques for Strained CMOS Technology
    Windbacher, Thomas ; Selberherr, Siegfried ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 25 (2009-09-25), S. 3-18
    Online unknown
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    Ge/III-V Channel Engineering for Future CMOS
    Sugiyama, Masakazu ; Takenaka, Mitsuru ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 19 (2009-05-15), S. 9-20
    Online unknown
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    Early Voltage Behavior in Circular Gate SOI nMOSFET Using 0.13 μm Partially-Depleted SOI CMOS Technology
    Joao Antonio Martino ; Ferreira, Rodrigo M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 4 (2007-11-21), S. 309-318
    Online unknown
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    (Invited) Very Low Temperature Epitaxy of Group-IV Semiconductors for Use in FinFET, Stacked Nanowires and Monolithic 3D Integration
    Tolle, John ; Schaekers, Marc ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 86 (2018-07-20), S. 163-175
    Online unknown
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    Extension of Moore's Law via Strained Technologies- The Strategies and Challenges
    Chung, Steve S.
    In: ECS Transactions, Jg. 41 (2011-10-04), S. 27-41
    Online unknown
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    Silicon Nanomembranes Incorporating Mixed Crystal Orientations
    Lagally, Max G. ; Paskiewicz, Deborah M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 215-218
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    High Scalability and Low Variability of Planar Fully Depleted SOI MOSFETs
    Weber, Olivier ; Buj-Dufournet, Christel ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 22 (2009-07-10), S. 71-80
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Ultra Compact FDSOI Transistors including Strain and Orientation: Processing and Performance
    Perreau, Pierre ; Weber, Olivier ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 19 (2009-05-15), S. 55-64
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Strained-Si MOSFETs for Low-Power Applications
    Maiti, Tapas K. ; Maiti, Chinmoy K. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 14 (2008-08-22), S. 203-211
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Does Strain Engineering Impact the Gate Stack Quality and Reliability?
    Giusi, Gione ; Crupi, Felice ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 11 (2007-09-28), S. 101-114
    Online unknown
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    On the Influence of the Position-Dependence of Stress on Device Performance
    Bufler, Fabian M. ; Gautschi, Ralf
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 439-442
    Online unknown
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