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    Application of RHBD Techniques to SEU Hardening of Third-Generation SiGe HBT Logic Circuits.
    Krithivasan, Ramkumar ; Marshall, Paul W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-12-01), Heft 6, S. 3400-3407
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    SET Tolerance of 65 nm CMOS Majority Voters: A Comparative Study.
    Danilov, Igor A. ; Gorbunov, Maxim S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 4, S. 1597-1602
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of Upset-Induced Degradation of Error-Mitigated High-Speed I/O's Using Fault Injection on SRAM Based FPGAs.
    Rezgui, Sana ; Swift, Gary M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-08-01), Heft 4, S. 2076-2083
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Schemes for Eliminating Transient-Width Clock Overhead From SET-Tolerant Memory-Based Systems.
    Blum, Daniel R. ; Delgado-Frias, José G.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-06-03), Heft 3, S. 1564-1573
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Hardening Techniques for MRAM-Based Nonvolatile Latches and Logic.
    Lakys, Yahya ; Zhao, Weisheng S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 1136-1141
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    DICE-Based Flip-Flop With SET Pulse Discriminator on a 90 nm Bulk CMOS Process.
    Maru, Akifumi ; Shindou, Hiroyuki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 6, S. 3602-3608
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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