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    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part I: Model Formulation.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 226-232
    Online academicJournal
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    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part II: Modeling Examples.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 233-241
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS.
    Richelli, Anna ; Kennedy, Simon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-12-01), Heft 6, S. 2049-2051
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Modeling and Design of EMI-Immune OpAmps in 0.18-$\mu$ m CMOS Technology.
    Boyapati, Subrahmanyam ; Redoute, Jean-Michel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-10-01), Heft 5, S. 1609-1616
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    EMI Susceptibility of a Digitally Based Analog Amplifier in a 180-nm CMOS Process.
    Coccoli, Alberto ; Richelli, Anna ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-08-01), Heft 4, S. 1236-1239
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Bulk-Driven CMOS Amplifier With High EMI Immunity.
    Li, Hong Ge ; Bai, Hui Xin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-12-01), Heft 6, S. 1425-1434
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS-Based Chaotic PWM Generator for EMI Reduction.
    Li, Hong Ge ; Gong, Si Di ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-08-01), Heft 4, S. 1224-1231
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An Accurate FDTD Model for Crosstalk Analysis of CMOS-Gate-Driven Coupled RLC Interconnects.
    Kumar, Vobulapuram Ramesh ; Kaushik, Brajesh Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 56 (2014-10-01), Heft 5, S. 1185-1193
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    An Integrated LVDS Transmitter in 0.18-$\mu$ m CMOS Technology With High Immunity to EMI.
    Matig-a, Gilbert Andrew ; Yuce, Mehmet Rasit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-02-01), Heft 1, S. 128-134
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation.
    Park, Myunghwan ; Rodgers, John C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 56 (2014-06-01), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    On the Robustness of CMOS-Chopped Operational Amplifiers to Conducted Electromagnetic Interferences.
    Lavarda, Andrea ; Petruzzi, Luca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 60 (2018-04-01), Heft 2, S. 478-486
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference.
    Fiori, Franco
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 54 (2012-05-01), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
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    Modeling Static Delay Variations in Push–Pull CMOS Digital Logic Circuits Due to Electrical Disturbances in the Power Supply.
    Gao, Xu ; Sui, Chunchun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-10-01), Heft 5, S. 1179-1187
    Online academicJournal
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    Critical Upsets of CMOS Inverters in Static Operation Due to High-Power Microwave Interference.
    Kim, Kyechong ; Iliadis, Agis A.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-11-01), Heft 4, S. 876-885
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Reduction of EMI Susceptibility in CMOS Bandgap Reference Circuits.
    Pretelli, Andrea ; Richelli, Anna ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 48 (2006-11-01), Heft 4, S. 760-765
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Study of Basic Effects of HPM Pulses in Digital CMOS Integrated Circuit Inputs.
    Holloway, Michael A. ; Dilli, Zeynep ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 54 (2012-11-01), Heft 5, S. 1017-1027
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Characterization and Modeling of Parasitic Emission in Deep Submicron CMOS.
    Vrignon, Bertrand ; Bendhia, Sonia Delmas ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 47 (2005-05-01), Heft 2, S. 382-387
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Critical upsets of CMOS inverters in static operation due to high-power microwave interference
    Kim, Kyechong ; Iliadis, Agis A.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-11-01), Heft 4, S. 876-885
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An Integrated LVDS Transmitter–Receiver System With Increased Self-Immunity to EMI in 0.18- \mu m CMOS.
    Matig-a, Gilbert A. ; Yuce, Mehmet Rasit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-02-01), Heft 1, S. 231-240
    Online academicJournal
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    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology.
    Ker, Ming-Dou ; Lai, Tai-Hsiang
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 50 (2008-11-01), Heft 4, S. 810-821
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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