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    A CMOS Frontend for Scintillators Readout by Photodiodes for Nuclear Physics Experiments.
    Castoldi, A. ; Guazzoni, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-10-01), Heft 10, S. 2678-2682
    Online academicJournal
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    Recoil-Ion-Induced Single Event Upsets in Nanometer CMOS SRAM Under Low-Energy Proton Radiation.
    Wu, Zhenyu ; Chen, Shuming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-01-15), Heft 1, part 2, S. 654-664
    Online academicJournal
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    Radiation-Induced Dose and Single Event Effects in Digital CMOS Image Sensors.
    Virmontois, Cedric ; Toulemont, Arthur ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3331-3340
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the Multiple Bit Upset Sensitivity of a Bulk CMOS SRAM.
    Gadlage, Matthew J. ; Kay, Matthew J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 6, S. 2722-2728
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Similarities Between Proton and Neutron Induced Dark Current Distribution in CMOS Image Sensors.
    Virmontois, Cedric ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 927-936
    Online academicJournal
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    X-Ray Silicon Drift Detector–CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature.
    Bertuccio, G. ; Ahangarianabhari, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-02-15), Heft 1b, S. 400-406
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Hardness-by-Design Approach for 0.15 μm Fully Depleted CMOS/SOI Digital Logic Devices With Enhanced SEU/SET Immunity.
    Makihara, A. ; Midorikawa, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2524-2530
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A Novel Compact Topology for High-Resolution CMOS/BiCMOS Spectroscopy Amplifiers.
    Buzzetti, Siro ; Guazzoni, Chiara
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-10-03), Heft 5, S. 1611-1616
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    On the Radiation Tolerance of SiGe HBT and CMOS-Based Phase Shifters for Space-Based, Phased-Array Antenna Systems.
    Thrivikraman, Tushar K. ; Cheng, Peng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3246-3252
    Online academicJournal
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    Detection of Thermal Neutrons With a CMOS Pixel Sensor for a Future Dosemeter.
    Vanstalle, Marie ; Husson, Daniel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 1443-1447
    Online academicJournal
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    Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130 nm SRAM.
    Martinie, S. ; Autran, J. L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-06-02), Heft 3, S. 1086-1092
    Online academicJournal
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    Radiation Sensor Compatible With Standard CMOS Technology.
    Moreno, B. Garcia ; Picos, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-10-02), Heft 5, S. 2910-2915
    Online academicJournal
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    Development of CMOS Monolithic Pixel Sensors With In-Pixel Correlated Double Sampling and Fast Readout.
    Battaglia, Marco ; Bussat, Jean-Marie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-02), Heft 6, S. 3746-3750
    Online academicJournal
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    Total Dose Radiation Response of CMOS Compatible SOI MESFETs.
    Spann, John ; Kushner, Vadim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2398-2402
    Online academicJournal
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    Fast CMOS binary front end for silicon strip detectors at LHC experiments.
    Kaplon, J. ; Dabrowski, W.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-02), Heft 6, S. 2713-2720
    Online academicJournal
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    Proton Radiation Effects in Vertical SiGe HBTs Fabricated on CMOS-Compatible SOI.
    Chen, Tianbing ; Sutton, Akil K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2353-2357
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    Single-Event Effects in 0.18 μm CMOS Commercial Processes.
    Makihara, A. ; Sakaide, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 2135-2138
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    Low-Energy Protons—Where and Why “Rare Events” Matter.
    Rodbell, Kenneth P.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1204-1215
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    Novel Silicon on Insulator Monolithic Active Pixel Structure With Improved Radiation Total Ionizing Dose Tolerance and Reduced Crosstalk Between Sensor and Electronics.
    Hu, Hai-fan ; Wang, Ying ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-10-01), Heft 5a, S. 1944-1949
    Online academicJournal
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    Radiation Effects in SiGe Technology.
    Cressler, John D.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-06-10), Heft 3, S. 1992-2014
    Online academicJournal
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