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    IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
    In: IEEE Std 1149.7-2022 (Revision of IEEE Std 1149.7-2009), 2022-10-14, S. 1-1048
    Richtlinie
    Wie komme ich dran?
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    IEEE Approved Draft Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
    In: IEEE P1149.7/D8, April 2022, 2022-06-22, S. 1-1133
    Richtlinie
    Wie komme ich dran?
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    IEEE Draft Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
    In: IEEE P1149.7/D7, October 2021, 2021-11-01, S. 1-1046
    Richtlinie
    Wie komme ich dran?
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    IEEE Draft Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
    In: IEEE P1149.7/D6, July 2020, 2020-11-03, S. 1-1043
    Richtlinie
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
    In: IEEE Std 1149.7-2009, 2010-02-10, S. 1-985
    Richtlinie
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -