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  1. Sun, J. ; Lao, Y.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 43 (2024-06-01), Heft 6, S. 1919-1923
    Online academicJournal
  2. Zhang, D. ; Guo, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 412-417
    Online academicJournal
  3. Sharma, Ayushi ; Goel, Ravi ; et al.
    In: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023-03-07, S. 1-3
    Konferenz
  4. Eliseeva, Daria A.
    In: 2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus), 2022-01-25, S. 950-954
    Konferenz
  5. Du, Y. ; Hassan, M.K. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1039-1042
    Online academicJournal
  6. Shen, Suping ; Cai, Wenjian ; et al.
    In: 2017 12th IEEE Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA), 2017-06-01, S. 595-600
    Konferenz
  7. Shobana, V. M. ; Srinivasan, R. ; et al.
    In: 2017 International Conference on Nextgen Electronic Technologies: Silicon to Software (ICNETS2), 2017-03-01, S. 180-183
    Konferenz
  8. Pang, Yon-Sup ; Park, Sung-Bum ; et al.
    In: 2016 IEEE Region 10 Conference (TENCON), 2016-11-01, S. 3049-3053
    Konferenz
  9. Teng, Qiao ; Wu, Yongyu ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-4
    Konferenz
  10. Ma, Weiwei ; Sun, Chao ; et al.
    In: 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2019-03-01, S. 1-3
    Konferenz
  11. Liu, Lequn Jennifer ; Mikhalev, Vladimir ; et al.
    In: 2014 IEEE Workshop On Microelectronics And Electron Devices (WMED), 2014-04-01, S. 1-3
    Konferenz
  12. Haifeng, Chen ; Huimin, Du
    In: 2011 International Conference on Mechatronic Science, Electric Engineering and Computer (MEC), 2011-08-01, S. 392-395
    Konferenz
  13. Wang, Yan ; Wu, Yong ; et al.
    In: 2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2017-07-01, S. 1-3
    Konferenz
  14. Kimura, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-03-01), Heft 3, S. 705-709
    Online academicJournal
  15. Tahi, H. ; Djezzar, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 11 (2011-03-01), Heft 1, S. 131-140
    Online academicJournal
  16. Tahi, H. ; Djezzar, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-11-01), Heft 11, S. 2892-2901
    Online academicJournal
  17. Yan, R. ; Duane, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-06-01), Heft 6, S. 1319-1326
    Online academicJournal
  18. Tahi, H. ; Djezzar, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 10 (2010-03-01), Heft 1, S. 108-115
    Online academicJournal
  19. Chiranu, Giorgiana-Catalina ; Babarada, Florin
    In: 2015 International Semiconductor Conference (CAS), 2015-10-01, S. 263-266
    Konferenz
  20. Shen, Suping ; Cai, Wenjian ; et al.
    In: 2016 IEEE 11th Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA), 2016-06-01, S. 1117-1121
    Konferenz
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