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  1. JONGWOO, HA ; LEE, Jung-Hyun ; et al.
    In: IEEE internet computing, Jg. 18 (2014), Heft 1, S. 30-37
    Online academicJournal
  2. Jeongho, Yeo ; Abramovitz, Yaniv ; et al.
    In: Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV, 2021-02-22
    Online unknown
  3. Mori, Taihei ; Nakazawa, Shinichi ; et al.
    In: Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV, 2021-02-22
    Online unknown
  4. Matsumoto, Shinichi ; Bushida, Satoru ; et al.
    In: Optical Microlithography XXXIV, 2021-02-22
    Online unknown
  5. Schroeder, Brett ; Fung Suong Ou ; et al.
    In: Advanced Etch Technology and Process Integration for Nanopatterning X, 2021-02-22
    Online unknown
  6. Alexandre, Luís A. ; Alirezazadeh, Saeid ; et al.
    2021
    Online unknown
  7. Cozzani, Valerio ; Wu, Jiansong ; et al.
    2021
    Online unknown
  8. Liu, Jun ; Yin, Jianqin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems for Video Technology, Jg. 29 (2019-06-01), S. 1659-1671
    Online unknown
  9. Cao, Yipu ; Zhang, Zuyi ; et al.
    In: Academic Journal of Computing & Information Science, Jg. 4 (2021)
    Online unknown
  10. Om Hari Gupta ; Tripathy, Manoj
    In: IETE Journal of Research, Jg. 66 (2018-07-03), S. 359-369
    Online unknown
  11. Moreira, Alvaro ; Thiago Soares Fernandes ; et al.
    In: Software: Practice and Experience, Jg. 48 (2017-08-24), S. 85-104
    Online unknown
  12. Rossi, Francesco ; Busoni, S. ; et al.
    In: Physica medica : PM : an international journal devoted to the applications of physics to medicine and biology : official journal of the Italian Association of Biomedical Physics (AIFB), Jg. 70 (2019-11-22)
    Online unknown
  13. Chao, Hung-Wen ; Xu, QiXin ; et al.
    In: Design-Process-Technology Co-optimization for Manufacturability XIV, 2020-03-23
    Online unknown
  14. Franco, AC ; Gouveia, A
    In: Section 2: Selection, Procurement and Distribution, 2020-03-01
    Online unknown
  15. Houchens, Kevin ; Adan, Ofer
    In: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIII, 2019-03-26
    Online unknown
  16. Kea, Marc ; Tang, Peng ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2018, 2018-10-03
    Online unknown
  17. Brendler, Andrew C. ; Culp, James A. ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography IX, 2018-03-30
    Online unknown
  18. Pisipati, Abhishek ; Das, Susmita ; et al.
    In: 2017 2nd IEEE International Conference on Recent Trends in Electronics, Information & Communication Technology (RTEICT), 2017-05-01
    Online unknown
  19. Metz, Andrew ; Hetzer, David ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-04-26
    Online unknown
  20. Beral, Christophe ; Yaegashi, Hidetami ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-03-21
    Online unknown
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sm 576 - 768
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lg 992 - 1200
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