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    The machine layout within a TFT-LCD bay with a multiple-stacker crane in-line stocker
    HO, Ying-Chin ; SU, Teng-Sheng
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 18-20, S. 5152-5172
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    An effective and efficient defect inspection system for TFT-LCD polarised films using adaptive thresholds and shape-based image analyses
    NOH, Chung-Ho ; LEE, Seok-Lyong ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 48 (2010), Heft 17-18, S. 5115-5135
    Online academicJournal
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    A multi-model approach to determine early manufacturing parameters for small-data-set prediction
    LI, Der-Chiang ; LIU, Chiao-Wen ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 22-24, S. 6679-6690
    Online academicJournal
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    Employing dependent virtual samples to obtain more manufacturing information in pilot runs
    LI, Der-Chiang ; CHEN, Chien-Chih ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 22-24, S. 6886-6903
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    Analysing optimum push/pull junction point location using multiple criteria decision-making for multistage stochastic production system
    LU, Jiunn-Chenn ; TAHO, YANG ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 18-20, S. 5523-5537
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    Incorporating ARIMA forecasting and service-level based replenishment in RFID-enabled supply chain
    WANG, S.-J ; HUANG, C.-T ; et al.
    In: RFID Technology and Applications in Production and Supply Chain Management, Jg. 48 (2010), Heft 9, S. 2655-2677
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    Automatic identification of spatial defect patterns for semiconductor manufacturing
    WANG, C.-H ; WANG, S.-J ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 44 (2006), Heft 23, S. 5169-5185
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