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  1. Morikawa, Sei ; Wilmart, Quentin ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 32 (2017-04-01), Heft 4, S. 1-1
    Online academicJournal
  2. Lee, K. P. ; Dabiran, A. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 47 (2003-09-01), Heft 9, S. 1501-1506
    academicJournal
  3. Nguyen, P. T. ; Yao, S. S. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 36 (1993-06-01), S. 933-935
    academicJournal
  4. Lourenco, Nelson E. ; Ildefonso, Adrian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), Heft 1, S. 231-238
    Online academicJournal
  5. Niu, X. ; Fardi, H.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 99 (2012-04-01), Heft 4, S. 531-542
    academicJournal
  6. Sridhar, S. ; Baliga, B. J.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 41 (1997-08-01), S. 1133-1138
    Online academicJournal
  7. Snitovsky, Yu. ; Nelayev, V. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 36 (2007-11-18), Heft 6, S. 409-414
    Online academicJournal
  8. Ramachandran, V. ; Narasimham, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-12-01), Heft 6, S. 3223-3231
    Online academicJournal
  9. Singh, Ranbir ; Baliga, B. J.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 39 (1996), S. 101-108
    Online academicJournal
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