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  1. Wen, Boran ; Zhang, Qisheng ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits & Signal Processing, Jg. 98 (2019-02-01), Heft 2, S. 257-264
    Online academicJournal
  2. Yu, Yang ; Liang, Jie ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 34 (2018-02-01), Heft 1, S. 27-41
    Online academicJournal
  3. Martin-Martinez, J. ; Moras, M. ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits & Signal Processing, Jg. 78 (2014), Heft 1, S. 65-76
    Online academicJournal
  4. Aminzadeh, Hamed
    In: Circuits, Systems & Signal Processing, Jg. 38 (2019), Heft 1, S. 242-258
    Online academicJournal
  5. Naghizadeh, Shokoufeh ; Gholami, Mohammad
    In: Circuits, Systems & Signal Processing, Jg. 38 (2019), Heft 1, S. 287-303
    Online academicJournal
  6. Chen, Junchao ; Chong, Kwen-Siong ; et al.
    In: Circuits, Systems & Signal Processing, Jg. 33 (2014-10-01), Heft 10, S. 3317-3329
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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