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  1. Rostami, S. ; Maier, M.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 110796-110806
    Online academicJournal
  2. Espinoza, Marck Regalado ; Manrique, Jose Gutierrez ; et al.
    In: 2021 Congreso Internacional de Innovación y Tendencias en Ingeniería (CONIITI), 2021-09-29, S. 1-6
    Konferenz
  3. Beigne, E. ; Valentian, A. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 50 (2015), Heft 1, S. 125-136
    Online academicJournal
  4. Iverson, R.B. ; Le Coz, Y.L.
    In: SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest, 1997, S. 117-120
    Konferenz
  5. Iverson, R.B. ; Le Coz, Y.L. ; et al.
    In: 2000 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (Cat. No.00TH8502), 2000, S. 84-86
    Konferenz
  6. Flatresse, Philippe ; Giraud, Bastien ; et al.
    In: 2013 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, 2013-02-01, S. 424-425
    Konferenz
  7. Le Coz, Y.L. ; Iverson, R.B.
    In: 1991 Proceedings Eighth International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference, 1991, S. 364-366
    Konferenz
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