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    The Metaverse and Beyond: Implementing Advanced Multiverse Realms With Smart Wearables
    Rostami, S. ; Maier, M.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 110796-110806
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    An Analysis of Leed Certification's Adaptation to Design and Construction of Sustainable Buildings in Peru
    Espinoza, Marck Regalado ; Manrique, Jose Gutierrez ; et al.
    In: 2021 Congreso Internacional de Innovación y Tendencias en Ingeniería (CONIITI), 2021-09-29, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Deep Learning for Eye Blink Detection Implemented at the Edge
    Jordan, A.A. ; Pegatoquet, A. ; et al.
    In: IEEE Embedded Systems Letters, Jg. 13 (2021-09-01), Heft 3, S. 130-133
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Agreement Between Saliency Maps and Human-Labeled Regions of Interest: Applications to Skin Disease Classification
    Singh, Nalini ; Lee, Kang ; et al.
    In: 2020 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW), 2020-06-01, S. 3172-3181
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Audio indexing including frequency tracking of simultaneous multiple sources in speech and music
    Coz, M. Le ; Pinquier, J. ; et al.
    In: 2013 11th International Workshop on Content-Based Multimedia Indexing (CBMI), 2013-06-01, S. 23-28
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A 460 MHz at 397 mV, 2.6 GHz at 1.3 V, 32 bits VLIW DSP Embedding F MAX Tracking
    Beigne, E. ; Valentian, A. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 50 (2015), Heft 1, S. 125-136
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Ultra-Wide Voltage Range designs in Fully-Depleted Silicon-On-Insulator FETs
    Beigne, E. ; Valentian, A. ; et al.
    In: 2013 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2013-03-01, S. 613-618
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Feasibility of the detection of choirs for ethnomusicologic music indexing
    Le Coz, Maxime ; Andre-Obrecht, Regine ; et al.
    In: 2012 10th International Workshop on Content-Based Multimedia Indexing (CBMI), 2012-06-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    65nm PD-SOI glitch-free Retention Flip-Flop for MTCMOS power switch applications
    Le-Coz, J. ; Flatresse, P. ; et al.
    In: 2011 IEEE International Conference on IC Design & Technology, 2011-05-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Multiclass Support Vector Machines With Example-Dependent Costs Applied to Plankton Biomass Estimation
    Gonzalez, P. ; Alvarez, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems, Jg. 24 (2013-11-01), Heft 11, S. 1901-1905
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    An open tool to compute stochastic bounds on steady-state distributions and rewards
    Fourneau, J. M. ; Le Coz, M. ; et al.
    In: 11th IEEE/ACM International Symposium on Modeling, Analysis and Simulation of Computer Telecommunications Systems, 2003. MASCOTS, 2003, S. 219-224
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Sum-over-Paths impulse-response moment-extraction algorithm for IC-interconnect networks: verification, coupled RC lines
    Le Coz, Y.L. ; Krishna, D. ; et al.
    In: ICCAD-2003. International Conference on Computer Aided Design (IEEE Cat. No.03CH37486), 2003, S. 665-670
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Intelligent control system for fluorescent lighting based on LonWorks technology
    Alonso, J.M. ; Ribas, J. ; et al.
    In: IECON '98. Proceedings of the 24th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (Cat. No.98CH36200), Jg. 1 (1998), S. 92-97
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A methodology for full-chip extraction of interconnect capacitance using Monte Carlo-based field solvers
    Iverson, R.B. ; Le Coz, Y.L.
    In: SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest, 1997, S. 117-120
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A multi-scale random-walk thermal-analysis methodology for complex IC-interconnect systems
    Iverson, R.B. ; Le Coz, Y.L. ; et al.
    In: 2000 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (Cat. No.00TH8502), 2000, S. 84-86
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Accurate high-speed performance prediction for full differential current-mode logic: the effect of dielectric anisotropy
    Garg, A. ; Le Coz, Y.L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 18 (1999-02-01), Heft 2, S. 212-219
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Ultra-wide body-bias range LDPC decoder in 28nm UTBB FDSOI technology
    Flatresse, Philippe ; Giraud, Bastien ; et al.
    In: 2013 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, 2013-02-01, S. 424-425
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A high-speed capacitance extraction algorithm for multi-level VLSI interconnects
    Le Coz, Y.L. ; Iverson, R.B.
    In: 1991 Proceedings Eighth International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference, 1991, S. 364-366
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Matching Distributions Algorithms Based on the Earth Mover’s Distance for Ordinal Quantification
    Castano, A. ; Gonzalez, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems, Jg. PP, Heft 99, S. 1-12
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Analysis of microgrid with wind-turbine and batteries optimized for load shedding in Tunisia
    Baccouche, Gaith ; Saidi, Abdelaziz Salah ; et al.
    In: 2022 IEEE 21st international Ccnference on Sciences and Techniques of Automatic Control and Computer Engineering (STA), 2022-12-19, S. 471-475
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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