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412 Treffer

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    CMOS Compatible Cost-Effective eGaN HEMT Using B-Doped Schottky Barrier Gate on Compliant SOI Substrates
    Mousa, Bassant ; Rezk, Theodora M. ; et al.
    In: 2024 14th International Conference on Electrical Engineering (ICEENG), 2024-05-21, S. 408-411
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    DrGaN: an Integrated CMOS Driver-GaN Power Switch Technology on 300mm GaN-on-Si with E-mode GaN MOSHEMT and 3D Monolithic Si PMOS
    Then, Han Wui ; Radosavljevic, M. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Leakage Reduction of GAA Stacked SI Nanosheet CMOS Transistors and 6T-SRAM Cell Via Spacer Bottom Footing Optimization
    Yao, Jiaxin ; Zhang, Xuexiang ; et al.
    In: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023-06-26, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Forksheet Field-Effect Transistors for Area Scaling and Gate-Drain Capacitance Reduction in Nanosheet-based CMOS Technologies
    Mertens, H. ; Horiguchi, N.
    In: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024-03-03, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Qubit Bias using a CMOS DAC at mK Temperatures
    Otten, R. ; Schreckenberg, L. ; et al.
    In: 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2022-10-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    6.6W/mm 200mm CMOS compatible AlN/GaN/Si MIS-HEMT with in-situ SiN gate dielectric and low temperature ohmic contacts
    Morvan, E. ; Gobil, Y. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    High Mobility TMD NMOS and PMOS Transistors and GAA Architecture for Ultimate CMOS Scaling
    Penumatcha, A. ; O'Brien, K. P. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Novel Gain Enhanced Folded Cascode OPAMP in 28nm CMOS Technology
    Kumar, Ravi ; Nagulapalli, Rajasekhar ; et al.
    In: 2022 International Conference on Electrical, Computer and Energy Technologies (ICECET), 2022-07-20, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Monolithic 3D Integration of Vertically Stacked CMOS Devices and Circuits with High-Mobility Atomic-Layer-Deposited In2O3 n-FET and Polycrystalline Si p-FET: Achieving Large Noise Margin and High Voltage Gain of 134 V/V
    Tang, W. ; Wang, Z. ; et al.
    In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022-12-03, S. 483-486
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Triple CJFET (Si, SiN, GaN, GaAs) Analog of the CMOS Transistor and its Main Connection Circuits in Low-Temperature Electronics
    Prokopenko, Nikolay N. ; Zhuk, Alexey A. ; et al.
    In: 2020 IEEE International Conference on Electrical Engineering and Photonics (EExPolytech), 2020-10-15, S. 63-66
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Study of Performance Comparison of Static and Dynamic Approximate Reverse Carry Propagate Adder Using 22 nm CMOS Technology
    Sedhumadhavan, A. ; Sabariesh, S. ; et al.
    In: 2020 6th International Conference on Advanced Computing and Communication Systems (ICACCS), 2020-03-01, S. 288-292
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Study of Ferroelectric HfO2-ZrO2 Superlattice Poly-Si Junctionless Nanosheet Gate-all-around Field-effect-transistor and CMOS Inverter
    Zhong, Xin-Chan ; Yan, Siao-Cheng ; et al.
    In: 2023 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2023-06-11, S. 33-34
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    CMOS Position-Based Charge Qubits: Theoretical Analysis of Control and Entanglement
    Blokhina, E. ; Giounanlis, P. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 4182-4197
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    An Intensive Study of Thermal Effects in High Speed Low Power CMOS Dynamic Comparators
    Jain, Vishal ; Tayal, Shubham ; et al.
    In: 2021 6th International Conference on Communication and Electronics Systems (ICCES), 2021-07-08, S. 250-254
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    CMOS beyond Si: Nanometer-Scale III-V MOSFETs
    del Alamo, Jesus A. ; Cai, Xiaowei ; et al.
    In: 2017 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2017-10-01, S. 26-29
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Performance Comparisons of Low-Power Low-Noise CMOS Voltage Controlled Differential Ring Oscillators in 65nm Process
    Omar, Abdulmoied Abdulbasit ; Bizzan, Sami Saddek ; et al.
    In: 2021 IEEE 1st International Maghreb Meeting of the Conference on Sciences and Techniques of Automatic Control and Computer Engineering MI-STA, 2021-05-25, S. 842-846
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS Scaling Trends and Beyond
    Bohr, Mark T. ; Young, Ian A.
    In: IEEE Micro, Jg. 37 (2017-12-01), Heft 6, S. 20-29
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Investigation on selectively etched SiGe and Si surface for Gate-All-Around CMOS devices fabrication
    Chang, Wei-Yuan ; Chu, Chun-Lin ; et al.
    In: 2022 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2022-04-18, S. 1-2
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    System Power Integrity and radiation analysis of packaging by CMOS inverter
    Kuo, Pei-Chen ; Wu, Yu-Yung ; et al.
    In: 2016 International Conference on Electronics Packaging (ICEP), 2016-04-01, S. 644-647
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    InGaAs FinFETs 3D Sequentially Integrated on FDSOI Si CMOS with Record Perfomance
    Convertino, C. ; Zota, C. B. ; et al.
    In: 2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2018-09-01, S. 162-165
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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