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    Circuits intégrés CMOS sur silicium / Integrated CMOS circuits on silicon
    SKOTNICKI, Thomas
    In: Techniques de l'ingénieur. Electronique, Jg. 2 (2000), Heft E2432, S. E2432.1
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Le test paramétrique: un outil essentiel pour le développemnt de technologies CMOS et biCMOS / Le test paramétrique: un outil essentiel pour le développement de technologie CMOS et biCMOS
    TERNISIEN D'OUVILLE, T
    In: Echo des recherches (Ed. française), 1994, Heft 156, S. 27-40
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    ASICS et logiciels CAO associés / ASICS and associated CAO softwares
    ROBERT, Michel
    In: Techniques de l'ingénieur. Electronique, Jg. 2 (2002), Heft E2492, S. E2492.1
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -