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    PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits
    VIJAY KUMAR, SHARMA ; PATTANAIK, Manisha ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 90-99
    academicJournal
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    ISGP: Iterative sequential geometric programming for precise and robust CMOS analog circuit sizing
    KUNDU, Sudip ; MANDAL, Pradip
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 4, S. 510-531
    academicJournal
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  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design of two Low-Power full adder cells using GDI structure and hybrid CMOS logic style
    FOROUTAN, Vahid ; MOHAMMAD REZA, TAHERI ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 48-61
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation
    MYUNGHWAN, PARK ; RODGERS, John C ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits
    ESQUEDA, Ivan S ; BARNABY, Hugh J
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 81-86
    academicJournal
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    Graphene for CMOS and Beyond CMOS Applications
    BANERJEE, Sanjay K ; FRANKLIN, Leonard ; et al.
    In: NANOELECTRONICS RESEARCH FOR BEYOND CMOS INFORMATION PROCESSING, Jg. 98 (2010), Heft 12, S. 2032-2046
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Single chip integration of MWCNTs/SiO2 thin film humidity sensor based on standard CMOS IC process
    TUO, LI ; XIAOWEI, LIU ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 155-158
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Post-processing and performance analysis of BEOL integrated MEMS pressure sensor capacitors in 8-metal 130 nm CMOS
    ANANIAH DURAI, SUNDARARAJAN ; REZAUL HASAN, S. M
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 89-94
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Monolithic z-axis CMOS MEMS accelerometer
    TSENG, Sheng-Hsiang ; WU, Po-Chang ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 178-182
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    High-Efficiency Wideband Rectifier for Single-Chip Batteryless Active Millimeter-Wave Identification (MMID) Tag in 65-nm Bulk CMOS Technology
    BURASA, Pascal ; CONSTANTIN, Nicolas G ; et al.
    In: SPECIAL ISSUE ON WIRELESS POWER TRANSFER, Jg. 62 (2014), Heft 4, S. 1005-1011
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Silicon nanowires integrated with CMOS circuits for biosensing application
    JAYAKUMAR, G ; ASADOLLAHI, A ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 98 (2014), S. 26-31
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Proximity gettering of slow diffuser contaminants in CMOS image sensors
    RUSSO, F ; MOCCIA, G ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 91-99
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Low-Noise and High-Linearity Wideband CMOS Receiver Front-End Stacked With Glass Integrated Passive Devices
    YE, Rong-Fu ; HORNG, Tzyy-Sheng ; et al.
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 62 (2014), Heft 5, S. 1229-1238
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    High-Power High-Efficiency Class-E-Like Stacked mmWave PAs in SOI and Bulk CMOS: Theory and Implementation
    CHAKRABARTI, Anandaroop ; KRISHNASWAMY, Harish
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 62 (2014), Heft 8, S. 1686-1704
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Evolution of low frequency noise and noise variability through CMOS bulk technology nodes from 0.5 μm down to 20 nm
    IOANNIDIS, E. G ; HAENDLER, S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 95 (2014), S. 28-31
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Digital Assistant Power Integrated Technologies for PMU in Scaling CMOS Process
    PING, LUO ; SHAOWEI, ZHEN ; et al.
    In: IEEE transactions on power electronics, Jg. 29 (2014), Heft 7, S. 3798-3807
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A Review of Watt-Level CMOS RF Power Amplifiers
    JOHANSSON, Ted ; FRITZIN, Jonas
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 62 (2014), Heft 1, S. 111-124
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Dual-Band SP6T T/R Switch in SOI CMOS With 37-dBm P_0.1dB for GSM/W-CDMA Handsets
    SHAWN WANG, X ; YUE, C. Patrick
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 62 (2014), Heft 4, S. 861-870
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A Digital Polar CMOS Power Amplifier With a 102-dB Power Dynamic Range Using a Digitally Controlled Bias Generator
    HYUNSEOK, CHOI ; YUMI, LEE ; et al.
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 62 (2014), Heft 3, S. 579-589
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    MOSFET modeling for design of ultra-high performance infrared CMOS imagers working at cryogenic temperatures: Case of an analog/digital 0.18 μm CMOS process
    MARTIN, P ; ROYET, A. S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 62 (2011), Heft 1, S. 115-122
    academicJournal
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