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    On Probability of Detection Lossless Concurrent Error Detection Based on Implications.
    Wang, Chih-Hao ; Hsieh, Tong-Yu
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 37 (2018-05-01), Heft 5, S. 1090-1103
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    The Self-Checking Concurrent Error-Detection Systems Synthesis Based on the Boolean Complement to the Bose-Lin Codes with the Modulo Value M = 4.
    Efanov, D. V. ; Sapozhnikov, V. V. ; et al.
    In: Èlektronnoe Modelirovanie, Jg. 43 (2021), Heft 1, S. 28-45
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Invariance-Based Concurrent Error Detection for Advanced Encryption Standard.
    Guo, Xiaofei ; Karri, Ramesh
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2012-06-01, S. 573-578
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Implementing Concurrent Error Detection in Infinite-Impulse-Response Filters.
    Reviriego, Pedro ; Ruano, Oscar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 59 (2012-09-01), Heft 9, S. 583-586
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Impeccable Circuits.
    Aghaie, Anita ; Moradi, Amir ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 69 (2020-03-01), Heft 3, S. 361-376
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Concurrent error detection and correction in dual basis multiplier over GF(2m)
    Chiou, C. W. ; Lee, C. Y. ; et al.
    In: IET Circuits, Devices & Systems, Jg. 3 (2009-02-01), Heft 1, S. 22-40
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    A Comparison of Dual Modular Redundancy and Concurrent Error Detection in Finite Impulse Response Filters Implemented in SRAM-Based FPGAs Through Fault Injection.
    Aranda, Luis Alberto ; Reviriego, Pedro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 65 (2018-03-01), Heft 3, S. 376-380
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Design of a hybrid non-volatile SRAM cell for concurrent SEU detection and correction.
    Junsangsri, Pilin ; Han, Jie ; et al.
    In: Integration: The VLSI Journal, Jg. 52 (2016), S. 156-167
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Accurate reliability analysis of concurrent checking circuits employing an efficient analytical method.
    An, T. ; Liu, K. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 55 (2015-02-15), Heft 3/4, S. 696-703
    academicJournal
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    Reliable Concurrent Error Detection Architectures for Extended Euclidean-Based Division Over GF(2^m).
    Mozaffari-Kermani, Mehran ; Azarderakhsh, Reza ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 22 (2014-05-01), Heft 5, S. 995-1003
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Recomputing with Permuted Operands: A Concurrent Error Detection Approach.
    Guo, Xiaofei ; Karri, Ramesh
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 32 (2013-10-01), Heft 10, S. 1595-1608
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Low Complexity Concurrent Error Detection for Complex Multiplication.
    Pontarelli, Salvatore ; Reviriego, Pedro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 62 (2013-09-01), Heft 9, S. 1899-1903
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Low-Cost Concurrent Error Detection for Floating-Point Unit (FPU) Controllers.
    Maniatakos, Michail ; Kudva, Prabhakar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 62 (2013-07-01), Heft 7, S. 1376-1388
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Concurrent fault detection and location with minimal overhead in Ling parallel prefix adders with a scheme for fault tolerant Ling prefix adders.
    Iqbal, Asma ; Chari, K. Manjunatha
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 127 (2021-12-01), S. N.PAG
    academicJournal
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    Concurrent Error Detection Methods for Asynchronous Burst-Mode Machines.
    Almukhaizim, Sobeeh ; Makris, Yiorgos
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 56 (2007-06-01), Heft 6, S. 785-798
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Tamper Proofing by Design Using Generalized Involution-Based Concurrent Error Detection for Involutional Substitution Permutation and Feistel Networks.
    Joshi, Nikhil ; Sundararajan, Jayachandran ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 55 (2006-10-01), Heft 10, S. 1230-1239
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Selectively Breaking Data Dependences to Improve the Utilization of Idle Cycles in Algorithm Level Re-Computing Data Paths.
    Wu, Kaijie ; Karri, Ramesh
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 52 (2003-12-01), Heft 4, S. 501-511
    Online academicJournal
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    Concurrent Error Detection Schemes for Fault-Based Side-Channel Cryptanalysis of Symmetric Block Ciphers.
    Karri, Ramesh ; Wu, Kaijie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 21 (2002-12-01), Heft 12, S. 1509-1517
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    Analysis of a BICS-only concurrent error detection method.
    Lo, Jien-Chung
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 51 (2002-03-01), Heft 3, S. 241-253
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    Check bit prediction scheme using Dong's code for concurrent error detection in VLSI processors.
    Russell, G. ; Maamar, A. H.
    In: IEE Proceedings -- Computers & Digital Techniques, Jg. 147 (2000-11-01), Heft 6, S. 467-471
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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