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  1. MIYAJIMA, Shinsuke ; YAMADA, Akira ; et al.
    In: Proceedings of the Third International Conference on Hot-Wire CVD (Cat-CVD) Process, Utrecht, The Netherlands, August 23-27, 2004, Jg. 501 (2006), Heft 1-2, S. 186-189
    Konferenz
  2. FANG, Q ; ZHANG, J.-Y ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Growth and Evolution of Ultra Thin Films: Surface and Interface Geometric & Electronic Structure, Jg. 428 (2003), Heft 1-2, S. 263-268
    Konferenz
  3. SHIMADA, Shiro ; TSUKURIMICHI, Kenichi
    In: Thin solid films, Jg. 419 (2002), Heft 1-2, S. 54-59
    academicJournal
  4. TOAL, S. J ; REEHAL, H. S ; et al.
    In: Proceedings of the Thin Films and Electronic Materials and Processing sessions from the 14th International Vacuum Congress, Birmingham, UK, 31 August-4 September, 1998, Jg. 343-4 (1999), S. 292-294
    Konferenz
  5. GORDIJN, Aad ; FRANCKE, Jeroen ; et al.
    In: Proceedings of the Third International Conference on Hot-Wire CVD (Cat-CVD) Process, Utrecht, The Netherlands, August 23-27, 2004, Jg. 501 (2006), Heft 1-2, S. 338-340
    Konferenz
  6. HACKL, Gerrit ; GERHARD, Helmut ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 513 (2006), Heft 1-2, S. 217-222
    academicJournal
  7. GAORONG, HAN ; PIYI, DU ; et al.
    In: Symposium Q on thin films, Jg. 334 (1998), Heft 1-2, S. 6-10
    Konferenz
  8. FENG, Z. C ; ZHANG, X ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd Asian Conference on Chemical Vapour Deposition, Gyeongju, Korea, May 28-30, 2001, Jg. 409 (2002), Heft 1, S. 15-22
    Konferenz
  9. LEE, Eung-Ahn ; KWANG HO, KIM
    In: Proceedings of the 29th international conference on metallurgical coatings and thin films, San Diego, CA, USA, April 22-26, 2002 (ICMCTF2002), Jg. 420-21 (2002), S. 371-376
    Konferenz
  10. KUO, Dong-Hau ; CHEUNG, Bo-Yu ; et al.
    In: Proceedings of the 28th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 30-May 4 2001, Jg. 398-99 (2001), Heft 1, S. 35-40
    Konferenz
  11. ALMEIDA, S. A ; SILVA, S. R. P ; et al.
    In: Proceedings of the Thin Films and Electronic Materials and Processing sessions from the 14th International Vacuum Congress, Birmingham, UK, 31 August-4 September, 1998, Jg. 343-4 (1999), S. 632-636
    Konferenz
  12. YINZHU, JIANG ; HAIZHENG, SONG ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 510 (2006), Heft 1-2, S. 88-94
    academicJournal
  13. WANG, C. Y ; ZHANG, F. L ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 496 (2006), Heft 2, S. 698-702
    academicJournal
  14. KARVANKOVA, P ; VEPREK-HEIJMAN, M. G. J ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 467 (2004), Heft 1-2, S. 133-139
    academicJournal
  15. PUTKONEN, Matti ; NIEMINEN, Minna ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 466 (2004), Heft 1-2, S. 103-107
    academicJournal
  16. KANG, S. W ; RHEE, S. W
    In: Thin solid films, Jg. 468 (2004), Heft 1-2, S. 79-83
    academicJournal
  17. TÖRNDAHL, Tobias ; OTTOSSON, Mikael ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 458 (2004), Heft 1-2, S. 129-136
    academicJournal
  18. WIEMER, C ; FERRARI, S ; et al.
    In: Proceedings of Symposium M on Optical and X-Ray Metrology for Advanced Device Materials Characterization, Jg. 450 (2004), Heft 1, S. 134-137
    Konferenz
  19. RIBEIRO, M ; PEREYRA, I ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 426 (2003), Heft 1-2, S. 200-204
    academicJournal
  20. SCOPEL, W. L ; FANTINI, M. C. A ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 413 (2002), Heft 1-2, S. 59-64
    academicJournal
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