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  1. SCHRÖDER, Arne ; RASEK, Guido A ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 1, S. 113-122
    Online academicJournal
  2. CAYMAX, Matty ; DELHOUGNE, Romain ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 260-265
    Konferenz
  3. LEYS, F. E ; BONZOM, R ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 292-296
    Konferenz
  4. LOO, Roger ; COLLAERT, Nadine ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 292-296
    Konferenz
  5. DELHOUGNE, Romain ; MEUNIER-BEILLARD, Philippe ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 91-94
    Konferenz
  6. BULLE-LIEUWMA, C. W. T ; VAN DUREN, J. K. J ; et al.
    In: Secondary ion mass spectrometry SIMS XIV: Proceedings of the Fourteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics, San Diego, California, USA, September 14-19, 2003, Jg. 231-32 (2004), S. 274-277
    Konferenz
  7. LOO, Roger ; CAYMAX, Matty
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 24-30
    Konferenz
  8. LOO, Roger ; CAYMAX, Matty ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 63-67
    Konferenz
  9. HE, WANG ; GOMEZ, Enrique D ; et al.
    In: Journal of physical chemistry. C, Jg. 117 (2013), Heft 40, S. 20474-20484
    academicJournal
  10. QI, ZHOU ; ZHIQIANG, WANG ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 284 (2013), S. 118-125
    academicJournal
  11. QI, ZHOU ; JIANGHUA, FANG ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 282 (2013), S. 115-120
    academicJournal
  12. SIMOEN, E ; LOO, R ; et al.
    In: Special issue containing papers presented at the Conference on Extended Defects in Semiconductors-2002 (EDS 2002), Bologna, Italy, 1-6 June 2002, Jg. 14 (2002), Heft 48, S. 13185-13193
    Online Konferenz
  13. ZHIXUN, LUO ; LOO, Boon H ; et al.
    In: Journal of physical chemistry. C, Jg. 116 (2012), Heft 4, S. 2884-2890
    academicJournal
  14. YI, LIU ; YU, Ling-Min ; et al.
    In: Journal of solid state chemistry (Print), Jg. 191 (2012), S. 283-286
    academicJournal
  15. LOO, Roger ; SOURIAU, Laurent ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 324 (2011), Heft 1, S. 15-21
    academicJournal
  16. CONARD, T ; DE WITTE, H ; et al.
    In: Proceedings of the Thin Films and Electronic Materials and Processing sessions from the 14th International Vacuum Congress, Birmingham, UK, 31 August-4 September, 1998, Jg. 343-4 (1999), S. 583-586
    Konferenz
  17. SAID, K ; POORTMANS, J ; et al.
    In: E-MRS Spring Conference, Symposium E: Thin Film Materials for Large Area Electronics, Jg. 337 (1999), Heft 1-2, S. 85-89
    Konferenz
  18. VINCENT, B ; LOO, R ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 312 (2010), Heft 19, S. 2671-2676
    academicJournal
  19. VAN BAVEL, Svetlana ; SOURTY, Erwan ; et al.
    In: Journal of material chemistry, Jg. 19 (2009), Heft 30, S. 5388-5393
    Online academicJournal
  20. VAN BAVEL, Svetlana S ; SOURTY, Erwan ; et al.
    In: Nano letters (Print), Jg. 9 (2009), Heft 2, S. 507-513
    academicJournal
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lg 992 - 1200
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