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    Compact CMOS Miller OpAmp With High EMI-Immunity
    Boyapati, Subrahmanyam ; Gundla, Jagapathi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-12-01), S. 2394-2400
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    CMOS-Based Chaotic PWM Generator for EMI Reduction
    Hong Ge Li ; Jian Wei Liu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-08-01), S. 1224-1231
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    Design of an EMI Self-Immune VML Transmitter in 0.18-$\mu$ m CMOS
    Matig-a, Gilbert E. ; Redoute, Jean-Michel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-10-01), S. 1646-1649
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    An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS
    Richelli, Anna ; Kennedy, Simon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-12-01), S. 2049-2051
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    Frequency-Response-Oriented Design and Optimization of N+ Diffusion Guard Ring in Lightly Doped CMOS Substrate
    Li, Er-Ping ; Yu, Xiaopeng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-04-01), S. 481-487
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    Bulk-Driven CMOS Amplifier With High EMI Immunity
    Dong Lin Su ; Shu Guo Xie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-12-01), S. 1425-1434
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    An Integrated LVDS Transmitter–Receiver System With Increased Self-Immunity to EMI in 0.18-um CMOS
    Mehmet Rasit Yuce ; Gilbert Andrew Matig-a ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-02-01), S. 231-240
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    An Integrated LVDS Transmitter in 0.18-<tex-math notation='LaTeX'>$\mu$</tex-math> m CMOS Technology With High Immunity to EMI
    Gilbert Andrew Matig-a ; Mehmet Rasit Yuce ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-02-01), S. 128-134
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    An Accurate FDTD Model for Crosstalk Analysis of CMOS-Gate-Driven Coupled RLC Interconnects
    Patnaik, Amalendu ; Vobulapuram Ramesh Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 56 (2014-10-01), S. 1185-1193
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    Noise Coupling Effects on CMOS Analog-to-Digital Converter in Magnetic Field Wireless Power Transfer System Using Chip-PCB Comodeling and Simulation
    Kim, Joungho ; Kim, Jonghoon J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-06-01), S. 329-338
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    Study of Basic Effects of HPM Pulses in Digital CMOS Integrated Circuit Inputs
    Holloway, M. ; Seekhao, Nuttiiya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 54 (2012-10-01), S. 1017-1027
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    On-Chip Transient Detection Circuit for System-Level ESD Protection in CMOS Integrated Circuits to Meet Electromagnetic Compatibility Regulation
    Shih, Pi-Chia ; Yen, Cheng-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 50 (2008), S. 13-21
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    Critical Upsets of CMOS Inverters in Static Operation Due to High-Power Microwave Interference
    Iliadis, Agis A. ; Kim, Kyechong
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-11-01), S. 876-885
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    Impact of Microwave Interference on Dynamic Operation and Power Dissipation of CMOS Inverters
    Kim, Kyechong ; Iliadis, Agis A.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-05-01), S. 329-338
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    Modeling and Design of EMI-Immune OpAmps in 0.18- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu$ </tex-math> m CMOS Technology
    Maryam Shojaei Baghini ; Boyapati, Subrahmanyam ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-10-01), S. 1609-1616
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    Modeling and Analysis of Simultaneous Switching Noise Coupling for a CMOS Negative-Feedback Operational Amplifier in System-in-Package
    Kim, Jaemin ; Park, Jongbae ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 51 (2009-08-01), S. 763-773
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    Reduction of EMI Susceptibility in CMOS Bandgap Reference Circuits
    Colalongo, Luigi ; Pretelli, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 48 (2006-11-01), S. 760-765
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    Evaluation on Board-Level Noise Filter Networks to Suppress Transient-Induced Latchup in CMOS ICs Under System-Level ESD Test
    Hsu, Sheng-Fu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 48 (2006-02-01), S. 161-171
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    Prediction of High-Power EMI Effects in CMOS Operational Amplifiers
    Paolo Stefano Crovetti ; Fiori, Franco
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 48 (2006-02-01), S. 153-160
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    Modeling Static Delay Variations in Push–Pull CMOS Digital Logic Circuits Due to Electrical Disturbances in the Power Supply
    Yakura, S.J. ; Beetner, Daryl G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-10-01), S. 1179-1187
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