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    A Tunable Low-Power Oscillator Based on High- <tex-math notation='LaTeX'>$Q$ </tex-math> Lithium Niobate MEMS Resonators and 65-nm CMOS
    Gong, Songbin ; Kourani, Ali
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 66 (2018-12-01), S. 5708-5723
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    Single Event Effects in 0.18 μm Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SEU and SEFI
    Feng, Jie ; Zhou, Dong ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 117 (2021-02-01), S. 114038-114038
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    A Demonstration of TIA Using FD-SOI CMOS OPAMP for Far-Infrared Astronomy
    Hattori, Yasuki ; Kanada, Hidehiro ; et al.
    In: Journal of Low Temperature Physics, Jg. 184 (2016-07-01), Heft 1, S. 449-453
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    Ultracompact 60-GHz CMOS BPF Employing Broadside-Coupled Open-Loop Resonators
    Abdel-Rahman, Adel B. ; Allam, Ahmed ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Jg. 27 (2017-09-01), S. 818-820
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    A 220- to 299-GHz CMOS Terahertz Detector
    Liu, Zhaoyang ; Li, Weifan ; et al.
    In: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, Jg. 40 (2019-04-27), S. 606-619
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    Design of Wideband Third-Order Bandpass Filters Using Broadside-Coupled Resonators in 0.13-$\mu$ m (Bi)-CMOS Technology
    Zhu, He ; Yang, Yang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 66 (2018-12-01), S. 5593-5604
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    A 0.18-?m CMOS time-domain capacitive-sensor interface for sub-1mG MEMS accelerometers
    Konishi, Toshifumi ; Ishihara, Noboru ; et al.
    In: IEICE Electronics Express, Jg. 15 (2018), Heft no. 2, S. 20171227-20171227
    Online unknown
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    A 4μs integration time imager based on CMOS single photon avalanche diode technology
    Popovic, Radivoje ; Charbon, Edoardo ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, 2006-08-01, S. 273-281
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    High photon detection efficiency single photon avalanche diode in 0.18 μm standard CMOS process
    Wang, Guanyu ; Jun, Yuan ; et al.
    In: Modern Physics Letters B, Jg. 31 (2017-06-08), S. 1750193-1750193
    Online unknown
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    CMOS x-rays detector array based on scintillating light guides
    Rocha, J. G. ; Ramos, N. F. ; et al.
    2004
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    Low-Threshold II–VI Lattice-Matched SWS-FETs for Multivalued Low-Power Logic
    Heller, Evan ; Gudlavalleti, R. H. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 50 (2021-03-05), S. 2618-2629
    Online unknown
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    Performance improvement of commercial ISFET sensors using reactive ion etching
    Fobelets, Kristel ; Panteli, Christoforos ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 192 (2018-05-01), S. 61-65
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    Simulation the Effects of Single Nuclear Particles on STG RS Triggers with Transistors Spacing into Two Groups
    Katunin, Yu. V. ; V. Ya. Stenin
    In: Russian Microelectronics, Jg. 47 (2018-11-01), S. 407-414
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    Upset-resilient RAM on STG DICE memory elements with the spaced transistors into two groups
    V. Ya. Stenin ; Katunin, Yu. V. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 45 (2016-11-01), S. 419-432
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    A Dual-Axis MEMS Capacitive Inertial Sensor with High-Density Proof Mass
    Machida, Katsuyuki ; Toshiyoshi, Hiroshi ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 22 (2015-04-01), S. 459-464
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    Low-Power, High-Density Spintronic Programmable Logic With Voltage-Gated Spin Hall Effect in Magnetic Tunnel Junctions
    Lee, Hochul ; Wang, Kang L. ; et al.
    In: IEEE Magnetics Letters, Jg. 7 (2016), S. 1-5
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    A readout integrated circuit for sensitive infrared photodetection operating in intense backgrounds
    Davies William de Lima Monteiro ; Pablo Nunes Agra Belmonte
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 304 (2020-04-01), S. 111861-111861
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    Physics and performance of nanoscale semiconductor devices at cryogenic temperatures
    Balestra, F ; Ghibaudo, Gerard ; et al.
    2017
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    Cryogenic single-chip electron spin resonance detector
    Gualco, Gabriele ; Anders, Jens ; et al.
    In: Journal of magnetic resonance (San Diego, Calif. : 1997), Jg. 247 (2014-06-06)
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    Meso-photonic Detection with HgCdTe APDs at High Count Rates
    Nicolas, Jean-Alain ; Pes, Salvatore ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 49 (2020-09-15), S. 6881-6892
    Online unknown
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