Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
15 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Meinten Sie usa?

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

15 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Lithium Tracer Diffusion in Sub-Stoichiometric Layered Lithium-Metal-Oxide Compounds
    Uxa, Daniel ; Holmes, Helen J. ; et al.
    In: Defect and Diffusion Forum, Jg. 413 (2021-12-17), S. 125-135
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    C-Rate Capability of Ion-Beam Sputter Deposited Silicon, Carbon and Silicon/Carbon Multilayer Thin Films for Li-Ion Batteries
    Hüger, Erwin ; Jin, Chao ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 169 (2022-08-01), S. 080525-80525
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Lithium tracer diffusion in proton-exchanged lithium niobate
    Dörrer, Lars ; Tuchel, Philipp ; et al.
    In: Solid State Ionics ; volume 365, page 115657 ; ISSN 0167-2738, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Corrigendum to’ X-ray diffraction and secondary ion mass spectrometry investigations of GaN films grown on (0 0 1) and (1 1 0) MgF2 substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PA-MBE)’. Materials science in semiconductor processing 119 (2020) 105,262
    Meyer, Kevin ; Buchholz, Martin ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing ; volume 122, page 105544 ; ISSN 1369-8001, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    X-ray diffraction and secondary ion mass spectrometry investigations of GaN films grown on (0 0 1) and (1 1 0) MgF2 substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PA-MBE)
    Meyer, Kevin ; Buchholz, Martin ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing ; volume 119, page 105262 ; ISSN 1369-8001, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Lithium tracer diffusion in proton-exchanged lithium niobate
    Schmidt, Harald ; Tuchel, Philipp ; et al.
    In: Solid State Ionics, Jg. 365 (2021-07-01), S. 115657-115657
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Corrigendum to’ X-ray diffraction and secondary ion mass spectrometry investigations of GaN films grown on (0 0 1) and (1 1 0) MgF2 substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PA-MBE)’. Materials science in semiconductor processing 119 (2020) 105,262
    Buchholz, Martin ; Dörrer, Lars ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 122 (2021-02-01), S. 105544-105544
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    X-ray diffraction and secondary ion mass spectrometry investigations of GaN films grown on (0 0 1) and (1 1 0) MgF2 substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PA-MBE)
    Schmidt, Harald ; Uxa, Daniel ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 119 (2020-11-01), S. 105262-105262
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Lithium-Silicon Compounds as Electrode Material for Lithium-Ion Batteries
    Uxa, Daniel ; Hüger, Erwin ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 167 (2020-09-28), S. 130522-130522
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Erratum: Knoblauch, N. et al. Ceria: Recent Results on Dopant-Induced Surface Phenomena †. Inorganics 2017, 5, 76
    Dörrer, Lars ; Spitzer, Karl-Heinz ; et al.
    2018
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Melt growth and post-grown annealing of semiinsulating (CdZn)Te by vertical gradient freeze method
    Franc, Jan ; Uxa, S. ; et al.
    In: Crystal Research and Technology, Jg. 48 (2013-02-05), S. 214-220
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Melt growth and post‐grown annealing of semiinsulating (CdZn)Te by vertical gradient freeze method
    Franc, J. ; Šedivý, L. ; et al.
    In: Crystal Research and Technology ; volume 48, issue 4, page 214-220 ; ISSN 0232-1300 1521-4079, 2013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Effect of contact preparation on the profile of the electric field in CdZnTe detectors
    Grill, Roman ; Belas, Eduard ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 46 (2013-09-13), S. 395102-395102
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Characterization of CdMnTe radiation detectors using current and charge transients
    Belas, Eduard ; Kyung Hyun Kim ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 34 (2013-07-01), S. 073001-73001
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Point contact to single-crystalline diamond
    Uxa, S. ; Mareš, Jiří ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 27 (2012-05-11), S. 065013-65013
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -