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In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 9, S. 1053-1055Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 7, S. 634-636Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 12, S. 1117-1119Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 8, S. 691-693Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 5, S. 408-411Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 4, S. 322-324Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 27 (2006), Heft 10, S. 843-845Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 10, S. 1149-1151Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 26 (2005), Heft 7, S. 492-494Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 26 (2005), Heft 4, S. 234-236Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 13 (1992), Heft 8, S. 405-407Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 8 (1987), Heft 3, S. 107-109Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 8 (1987), Heft 4, S. 154-156Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 7 (1986), Heft 5, S. 273-275Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 8 (1987), Heft 4, S. 157-159Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 2, S. 274-276Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 10, S. 1089-1091Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 4, S. 363-365Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 7, S. 616-618Online academicJournalZugriff: