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  1. BHASKAR, S ; MAJUMDER, S. B ; et al.
    In: Journal of the American Ceramic Society, Jg. 87 (2004), Heft 3, S. 384-390
    Online academicJournal
    Siehe Detailanzeige für Volltext
  2. KOVAC, J ; ZALAR, A
    In: ECASIA'01: proceedings of the 9th European conference on applications of surface and interface analysis, 30th September-5th October 2001, Avignon, France, Jg. 34 (2002), Heft 1, S. 253-256
    Online Konferenz
  3. YANG, Jun-Kyu ; KANG, Min-Gu ; et al.
    In: Proceedings of the second international seminar on semiconductor surface passivation, 10-13 September 2001, Ustroń, Poland, Jg. 67 (2002), Heft 1, S. 161-167
    Konferenz
  4. ZOU, Y ; WANG, L. W ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 515 (2007), Heft 13, S. 5524-5527
    academicJournal
  5. FISH, G. A ; MASON, B ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 186 (1998), Heft 1-2, S. 1-7
    academicJournal
  6. COSSARUTTO, L ; CHAOUI, N ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 126 (1998), Heft 3-4, S. 352-355
    academicJournal
  7. MUTEL, B ; BEN TALEB, A ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 266 (1995), Heft 2, S. 119-128
    academicJournal
  8. LOBSTEIN, N ; MILLON, E ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 89 (1995), Heft 3, S. 307-321
    academicJournal
  9. DIANI, M ; BISCHOFF, J. L ; et al.
    In: Journal of applied physics, Jg. 73 (1993), Heft 11, S. 7412-7415
    Online academicJournal
  10. CHAMBERS, S. A ; ANDERSON, S. B ; et al.
    In: Physical review. B, Condensed matter, Jg. 34 (1986), Heft 2, S. 913-920
    Online academicJournal
  11. AZIZI, Samir ; BRAIK, Mourad ; et al.
    In: Applied physics. A, Materials science & processing (Print), Jg. 108 (2012), Heft 1, S. 99-106
    Online academicJournal
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